Dediziertes Rastersondenmikroskop

Die Apparatur soll für versedene Forschungsvorhaben im Rahmen des Exzellenzclusters，des SFB 953，der Forschergruppe FOR 1878 and in weiteren Kooperationen innerhalb der FAU eingesetzt韦尔登.在德国的Rastersonden-Mikroskopie的Bereich中，Anschaffung将成为Lehrstuhls的方法库。Dies ist für die internationale Wettbewerbsfähigkeit im Bereich der Grundlagenforschung für neue Materialien dringend erforderlich; in Anbetracht der zunehmend komplexeren Materialien und Prozesse ist eine Charakterisierung der Grenzflächen und darauf erzeugter Strukturen im Realraum unabdingbar.在新的韦尔登设备中，材料特性和对焊接工艺的修改是最重要的。大足是一个没有温度传感器的仪器，用STM和AFM的扫描也可以在120和500 K的大温度下原位测量韦尔登。一个FAU的仪器是不可能的。物理系（AG Maier和AG Schneider）或Antragstellers的Lehrstuhl的前处理装置分别为Tieftemperatur-Mikroskope（LHe）或STM-Geräte，其温度为200 K。

Die Apparatur soll für verschiedene Forschungsvorhaben im Rahmen des Exzellenzclusters, des SFBs 953, der Forschergruppe FOR 1878 und in weiteren Kooperationen innerhalb der FAU eingesetzt werden. Die Anschaffung wird das Methodenarsenal des Lehrstuhls im Bereich der Rastersonden-Mikroskopie deutlich verstärken. Dies ist für die internationale Wettbewerbsfähigkeit im Bereich der Grundlagenforschung für neue Materialien dringend erforderlich; in Anbetracht der zunehmend komplexeren Materialien und Prozesse ist eine Charakterisierung der Grenzflächen und darauf erzeugter Strukturen im Realraum unabdingbar. Mit der neuen Apparatur werden Untersuchungen möglich sein, die hauptsächlich im Bereich der Materialcharakterisierung und der Modifikation von Wachstumsprozessen an Grenzflächen angesiedelt sind. Dazu ist bewusst kein Tieftemperaturmikroskop vorgesehen, sondern ein Instrument, mit dem sowohl mit STM als auch mit AFM ein möglichst großer Temperaturbereich zwischen 120 und 500 K in situ abgedeckt werden kann. An der FAU existiert kein vergleichbares Instrument. Die vorhandenen Apparaturen am Department Physik (AG Maier und AG Schneider) oder am Lehrstuhl des Antragstellers sind entweder Tieftemperatur-Mikroskope (LHe) oder reine STM-Geräte mit stark eingeschränktem Temperaturbereich (minimale Temperatur für in situ Messungen 200 K).