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Physikalische und chemische Eigenschaften von Bor-Oberflächenphasen auf Silizium (111)

Physikalische und chemische Eigenschaften von Bor-Oberflächenphasen auf Silizium (111)
硅表面硼相的物理和化学性质 (111)
批准号:
5197328
负责人:
Professor Dr. Ignaz Eisele
金额:
$0.0万
依托单位:
依托单位国家:
德国
项目类别:
Research Grants
财政年份:
1999
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
1998-12-31 至 2002-12-31

项目摘要

项目成果

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中文摘要
翻译
他说:“这是一件非常重要的事情。”他说:“这是一件非常重要的事情,因为这是一件非常重要的事情。在此基础上,提出了一种新的解决方案他说:“这是一件非常重要的事情,因为这是一件非常重要的事情。他说:“这是一件非常重要的事情,因为它是一件非常重要的事情。”
英文摘要
Die Molekularstrahlepitaxie ermöglicht das kontrollierte Abscheiden vertikaler Schichtsysteme mit Schichtdicken vom Mikrometerbereich bis zu Dicken einer einzigen Monolage. Damit reicht ihre Anwendung von der Erzeugung vertikaler Heterostrukturen der Nanoelektronik, z.B. Feldeffekt gesteuerte MOS-Transistoren oder Dioden, bis hin zu physikalisch hochinteressanten Oberflächenphasen, gebildet z.B. durch Bor auf Silizium (111). Daher kann sie die technologische Grundlage sowohl für rein forschungsmäßig gestellte Fragestellungen sein, wie z.B. der Frage nach dem physikalischen und chemischen Verhalten der im Titel erwähnten "Silizium (111)/3x/3-R30° Bor-Oberflächenphase", als auch für industriell relevante Fragestellungen, wie z.B. nach schnelleren und leistungsstärkeren Halbleiterbauelementen. Das geplante Vorhaben zielt darauf ab, beide Fragestellungen am konkreten Beispiel von Bor-Oberflächenphasen auf Silizium (111) zu verbinden. Erklärtes Endziel dabei solle es zum einen sein, ein umfangreiches Verständnis dieser Phasen zu erlangen und gleichzeitig Wege und Konzepte zu finden und aufzuzeigen, wie dieses Verständnis über die Grenzen der Grundlagenphysik hinaus im Beriech der Nanotechnologie angewandt werden kann.
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会议论文
Steigerung der Leistung von MOS-Bauelementen durch Stoßionisation
Vertikale MOS-Bauelemente mit Delta-Dotierprofilen
  • 批准号:
    5272544
  • 项目类别:
    Research Units
  • 资助金额:
    $0.0万
  • 财政年份:
    2000
  • 负责人:
    Professor Dr. Ignaz Eisele
  • 依托单位:
Untersuchung des Aktivierungs- und Diffusionsverhaltens von Bor in polykristallinen SiGe-Gate-Elektroden für MOS-Transistoren
  • 批准号:
    5241976
  • 项目类别:
    Research Grants
  • 资助金额:
    $0.0万
  • 财政年份:
    2000
  • 负责人:
    Professor Dr. Ignaz Eisele
  • 依托单位:
海外基金