In-situ-Modifikation ferroelektrischer Domänen in optischen Wellenleitern mit Hilfe der Rasterkraftmikroskopie

新开发的光栅kraftmikroskopie ermöglichen die分析和操纵铁电领域在epitaktischen Schichten的钛酸钡与30 nm Auflösung。Mit Hilfe der gepulsten Laser-Deposition ist es kürzlich gelungen，epitaktische BaTiO 3-Schichten auf verbestaren Substraten aufzuwachsen und ihre Eignung für verlustarme optische Wellenleiter nachzuweisen.在Rippenform，Y-Verzweiger和Mach-Zehnder-Bauelemente中，Inzwischen也是第一个Streifenwellenleiter，它是沃登。在艾伦Fällen韦尔登，光学特性是由材料中的Domänenstruktur决定的。光栅光栅显微镜只有一个韦尔登，它是由铁电薄膜中的激光和非化学物质组成的Domänenstrukturen分析的。如果你能找到韦尔登，你就能找到韦尔登。光栅微结构也可用于纳米结构。因此，这种纳米结构是在原位光学元件上形成的，它可以在光学元件的表面上形成光，并在光学元件的表面上形成光，以分析光学元件的表面。我们要确保动力系统的稳定性。Ebenfalls sind Informationen über die kohärente und inkohärente Lichtstreuung an Domänenstrukturen ableitbar. Daraus韦尔登也将Abschätzungen über die Anwendbarkeit ferroelektrischer Wellenleiter in integriert-optischen Schaltern möglich sowie über die domäneninduzierten nicht-linearen Effekte。

Neue Entwicklungen der Rasterkraftmikroskopie ermöglichen die Analyse und Manipulation ferroelektrischer Domänen in epitaktischen Schichten aus BaTiO3 mit 30 nm Auflösung. Mit Hilfe der gepulsten Laser-Deposition ist es kürzlich gelungen, epitaktische BaTiO3-Schichten auf verschiedenen Substraten aufzuwachsen und ihre Eignung für verlustarme optische Wellenleiter nachzuweisen. Inzwischen sind auch erste Streifenwellenleiter in Rippenform, Y-Verzweiger und Mach-Zehnder-Bauelemente hergestellt worden. In allen Fällen werden die optischen Eigenschaften wesentlich von der Domänenstruktur im Material beeinflußt.Die Rasterkraftmikroskopie soll nun eingesetzt werden, um die Domänenstrukturen an lasterablatierten und naßchemisch gewachsenen dünnen ferroelektrischen Filmen zu analysieren. Zudem soll erforscht werden, inwieweit Domänen gezielt manipuliert werden können. Die Rasterkraftmikroskopie ermöglicht dabei auch das Einschreiben von nanoskaligen Strukturen. Außerdem ist geplant, diese Nanostrukturen in-situ optisch zu untersuchen, wobei Licht aus Glasfasern in die Wellenleiter eingekoppelt und zusätzlich die optische Nahfeldmikroskopie zur Analyse eingesetzt wird. Wir erwarten Erkenntnisse über die Dynamik einzelner Domänen sowie Aussagen über deren Stabilität. Ebenfalls sind Informationen über die kohärente und inkohärente Lichtstreuung an Domänenstrukturen ableitbar. Daraus werden auch Abschätzungen über die Anwendbarkeit ferroelektrischer Wellenleiter in integriert-optischen Schaltern möglich sowie über die domäneninduzierten nicht-linearen Effekte.