Rastersondenmikroskopie und -spektroskopie von ungeordneten Oberflächen

Wichtige Stoffkraassen and Materien Sind Nichtkristallin，Wie Z.B.Gläser and Keramiken.ZIel Dieses es Projektes ist es，odch die Anwendung verschiedener Varianten rastersondenmikroskischer Methoden Wie RasterTunelmikroskopie(STM)，RasterTunelSpekroskopie im Contact-(C-AFM)and Rasterkraftmikroskopie im Contact-(C-AFM)and Nur Fernordnung zu leisten(NC-AFM)，einen grundLegenden beitrag zur Strukturaufklärung von Festkörpern ohne Nur inger Gernordnung zu leisten.这是一个组织和组织，在超高真空(UHV)的基础上发展和发展，这是一种新的技术，但也不能满足人类的需求。在非晶格化(STM，AFM)和非晶态(STM，AFM)和非晶态(STM，AFM)和非晶种(DEREN VERNDERNG BE INSET ZESEZEINSINSEZEINSINSEZEINSINSEZENCE REKRKRISTICATION，UBER DIE VERTEILEUNG GGF)中，所有的信息都包含在一起。Lokale Entmischungsprozesse(STS)，Sowieüber Lakale Electrkale OberflächenPotale.

Wichtige Stoffklassen und Materialien sind nichtkristallin, wie z.B. Gläser und Keramiken. Ziel dieses Projektes ist es, durch die Anwendung verschiedener Varianten rastersondenmikroskopischer Methoden wie Rastertunnelmikroskopie (STM), Rastertunnelspektroskope (STS) und Rasterkraftmikroskopie im contact- (C-AFM) und non-contact-Modus (NC-AFM), einen grundlegenden Beitrag zur Strukturaufklärung von Festkörpern ohne oder nur geringer Fernordnung zu leisten. Dazu sollen anorganische und organische Proben im Ultrahochvakuum (UHV) gebrochen und von den entstehenden kontaminationsfreien Oberflächen RastersondenBildern mit bis zu atomarer Auflösung unter verschiedenen Abbildungsbedingungen sowie nach thermischer Behandlung aufgenommen werden. Deren Auswertung liefert neben kurzreichweitigen Strukturparametern, wie Bindungslängen, Bindungswinkeln und Koordinationszahlen auch Informationen über Strukturmotive der mittel- bis langreichweitigen Anordnung und Verknüpfungsregeln in amorphen Netzwerken (STM, AFM) und deren Veränderung bei einsetzender Rekristallisation, über die chemische Verteilung und ggf. lokale Entmischungsprozesse (STS), sowie über lokale elektrostatische Oberflächenpotentiale.