Morphologieabhängigkeit der mechanischen und elektronischen Eigenschaften von Blockcopolymeren aus Polyferrocenylsilan, Polymethylmethacrylat und Polystyrol

Ziel des Vorhabens is ein tieferes Verständnis der komplexen wechselseitigen Abhängigkeit von Zusammensetzung，Kettenarchitektur，Verarbeitungsbedingungen，Morphologie，mikromechanischen Eigenschaften und elektrischer Leitfähigkeit in symmetrischen sowie unsymmetrischen funktionalen Blockpolymeren aus Polyferrocenylsilan（PFS），Polymethylmethacrylat（PMMA）und Polystyrol（PS）. PFS-段在室温下的非晶材料辊中具有较高的温度，具有较高的结晶度和较低的功能块。聚甲基丙烯酸甲酯（PMMA）与聚苯乙烯（PFS）完全不对称，玻璃化无定形块（Glasartig-amorpher Block）形成凝胶，而聚苯乙烯（PS）与聚苯乙烯（PFS）完全对称，形成韦尔登固体。PFS-Domänen的形态学可作为共混物共混物共混参数的函数，以及材料的结晶特征和结晶后的微观机理，也可作为热塑性塑料韦尔登改性分析的交替模拟系统。在TEM、SAXS和AFM上进行多频率的平行测量和测量，可以获得材料的电致发光。

Ziel des Vorhabens ist ein tieferes Verständnis der komplexen wechselseitigen Abhängigkeit von Zusammensetzung, Kettenarchitektur, Verarbeitungsbedingungen, Morphologie, mikromechanischen Eigenschaften und elektrischer Leitfähigkeit in symmetrischen sowie unsymmetrischen funktionalen Blockcopolymeren aus Polyferrocenylsilan (PFS), Polymethylmethacrylat (PMMA) und Polystyrol (PS). Die PFS-Segmente übernehmen in diesen Materialen die Rolle des bei Raumtemperatur zunächst kautschukartig amorphen, mit der Zeit jedoch allmählich kristallisierenden und nach Dotierung halbleitenden funktionalen Blockes. Das PMMA wird als mit dem PFS stark unverträglicher, glasartig-amorpher Block herangezogen, wohingegen das PS als glasartig-amorpher Block mit partieller Verträglichkeit mit dem PFS genutzt werden soll. Die Morphologie der PFS-Domänen soll als Funktion der genannten Parameter sowie zugesetzter Blendpartner festgestellt und die (mikro)mechanischen Eigenschaften der Materialien vor und nach erfolgter Kristallisation - zu betrachten auch als ein Modellsystem zur Alterungsmodellierung in schlagzäh-modifizierten Thermoplasten - analysiert werden. Parallel dazu wird die elektrische Leitfähigkeit der Materialien nach Dotierung frequenzabhängig bestimmt und ergänzend zu TEM, SAXS und AFM zur Morphologiecharakterisierung herangezogen.