课题基金 / 基金详情

Modulares UHV Clustersystem für MBE und ARPES

Modulares UHV Clustersystem für MBE und ARPES
用于 MBE 和 ARPES 的模块化特高压集群系统
批准号:
92855859
负责人:
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Major Research Instrumentation
财政年份:
2008
资助国家:
德国
项目状态:
未结题
起止时间:
2007-12-31 至 --

项目摘要

项目成果

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中文摘要
翻译
“Phasenwechselmaterialien stellen eine der vielversprechendsten Materialklassen für die nichtflüchtige Datenspeicherung dar.您可以选择一个非常复杂的物理现象,但这并不意味着您已经开始了。Ziel des Projektes is daher die Herstellung und Charakterisierung epitaktisch gewachsener Dünnschichten aus Phasenwechselmaterialien in einem Ultrahochvakuum-Schutersystem.分子束外延(MBE)技术可以从一个韦尔登衬底上的相外延材料中获得外延层,也可以通过硅基沉积物参数的选择韦尔登获得外延层。Damit stünden weltweit erstmalig epitaktische Phasenwechselmaterialien in der technologisch relevanten kristallinen Phase für eine Untersuchung der elektronischen Eigenschaften zur Verfügung. Zur präzisen Bestimmung dieser Eigenschaften soll die winkelaufgelöste Photoelektronenspektroskopie eingesetzt韦尔登.我们可以通过现场准备相关阶段的电气特性来进行实验。Daher wird ein modulares Präparations- und Analysesspeaking benötigt.“
英文摘要
„Phasenwechselmaterialien stellen eine der vielversprechendsten Materialklassen für die nichtflüchtige Datenspeicherung dar. Sie zeigen zudem eine Vielzahl von faszinierenden physikalischen Phänomenen, die noch nicht vollständig entschlüsselt sind. Ziel des Projektes ist daher die Herstellung und Charakterisierung epitaktisch gewachsener Dünnschichten aus Phasenwechselmaterialien in einem Ultrahochvakuum-Clustersystem. Mittels Molekularstrahlepitaxie (MBE) sollen sowohl epitaktische Schichten aus Phasenwechselmaterialien auf einem einkristallinen Substrat deponiert werden, als auch entsprechende amorphe Schichten durch Wahl geeigneter Depositionsparameter abgeschieden werden. Damit stünden weltweit erstmalig epitaktische Phasenwechselmaterialien in der technologisch relevanten kristallinen Phase für eine Untersuchung der elektronischen Eigenschaften zur Verfügung. Zur präzisen Bestimmung dieser Eigenschaften soll die winkelaufgelöste Photoelektronenspektroskopie eingesetzt werden. Durch umfangreiche Vorexperimente konnten wir zeigen, dass nur durch in-situ Präparation der Schichten die elektronischen Eigenschaften der relevanten Phasen zugänglich sind. Daher wird ein modulares Präparations- und Analysesystem benötigt.“
期刊论文(1)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
DOI: 10.1002/admi.201300130
发表时间: 2014-08
期刊: Advanced Materials Interfaces
影响因子: 5.4
作者: [P. Schulz;Tobias Schäfer;C. Zangmeister;Christian Effertz;D. Meyer;D. Mokros;R. V. van Zee;R. Mazzarello;M. Wuttig]
通讯作者: P. Schulz;Tobias Schäfer;C. Zangmeister;Christian Effertz;D. Meyer;D. Mokros;R. V. van Zee;R. Mazzarello;M. Wuttig
国内基金
海外基金
利用UHV-STM研究碳元素诱导的高密勒指数硅表面的表面重构
  • 批准号:
    10964014
  • 项目类别:
    地区科学基金项目
  • 资助金额:
    24.0万元
  • 批准年份:
    2009
  • 负责人:
    朱永哲
  • 依托单位:
UHV-FFM研究碳60分子的转动性质
  • 批准号:
    10674095
  • 项目类别:
    面上项目
  • 资助金额:
    25.0万元
  • 批准年份:
    2006
  • 负责人:
    梁齐
  • 依托单位:
UV-UHV/CVD法SiGe/Si选区原子层外延研究
  • 批准号:
    69746001
  • 项目类别:
    专项基金项目
  • 资助金额:
    10.0万元
  • 批准年份:
    1997
  • 负责人:
    余金中
  • 依托单位: