Fully Deterministic Storage Based Logic Built-In Self-Test
Fully Deterministic Storage Based Logic Built-In Self-Test
复制标题
基于完全确定性存储的逻辑内置自测试
DOI：
10.1109/vts56346.2023.10139967
复制
发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Pomeranz, Irith
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Gopalsamy, Subashini;Pomeranz, Irith
登录
查看更多内容
一种基于分区和存储的扫描电路内置测试模式生成方法
DOI：
--
发表时间：
2002
期刊：
Proceedings of ASP-DAC/VLSI Design 2002. 7th Asia and South Pacific Design Automation Conference and 15h International Conference on VLSI Design
影响因子：
--
作者：
I. Pomeranz;S. Reddy
通讯作者：
S. Reddy
用于汽车安全关键应用中老化影响下的性能故障预测的在线 BIST
DOI：
--
发表时间：
2011
期刊：
Latin American Test Workshop - LATW
影响因子：
--
作者：
R. S. Oliveira;J. Semião;I. Teixeira;Marcelino B. Santos;João Paulo Teixeira
通讯作者：
João Paulo Teixeira
确定性逻辑 BIST 的高效模式映射
DOI：
--
发表时间：
2004
期刊：
2004 International Conferce on Test
影响因子：
--
作者：
V. Gherman;H. Wunderlich;H. Vranken;F. Hapke;M. Wittke;Michael Garbers
通讯作者：
Michael Garbers
用于转换故障测试的确定性逻辑 BIST
DOI：
--
发表时间：
2006
期刊：
IEEE European Test Symposium
影响因子：
--
作者：
V. Gherman;H. Wunderlich;J. Schlöffel;Michael Garbers
通讯作者：
Michael Garbers
安全性与测试质量：完全嵌入式测试方法是同时拥有这两者的关键
DOI：
10.1109/itc.2004.160
发表时间：
2004
期刊：
2004 International Conferce on Test
影响因子：
--
作者：
S. Pateras
通讯作者：
S. Pateras