Enhancing Single-ion Detection Efficiency by Applying a Substrate Bias Voltage for Deterministic Single-ion Doping
Enhancing Single-ion Detection Efficiency by Applying a Substrate Bias Voltage for Deterministic Single-ion Doping
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通过施加衬底偏置电压进行确定性单离子掺杂来提高单离子检测效率
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
I.Ohdomari
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M.Hori;T.Shinada;K.Taira;A.Komatsubara;T.Tanii;T.Endoh;I.Ohdomari
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影响因子：
1.4
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DOI：
--
发表时间：
2009
期刊：
Nanotechnology 20
影响因子：
--
作者：
M.Hori;T.Shinada;K.Taira;N.Shimamoto;T.Endoh;I.Ohdomari
通讯作者：
I.Ohdomari
影响因子：
1.4
作者：
T. Matsukawa;T. Shinada;T. Fukai;I. Ohdomari
通讯作者：
I. Ohdomari