Use of Decoupling Cells for Mitigation of SET Effects in CMOS Combinational Gates

Use of Decoupling Cells for Mitigation of SET Effects in CMOS Combinational Gates
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使用去耦单元减轻 CMOS 组合门中的 SET 效应

DOI:
10.1109/icecs.2018.8617996
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发表时间:
2018
期刊:
2018 25th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS)
影响因子:
--
通讯作者:
R. Kraemer
R. Kraemer
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
M. Andjelkovic;M. Babic;O. Schrape;M. Krstic;R. Kraemer

文献摘要

参考文献

被引文献

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