Single event effects sensitivity of low energy proton in Xilinx Zynq-7010 system-on chip
Single event effects sensitivity of low energy proton in Xilinx Zynq-7010 system-on chip
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单粒子效应对 Xilinx Zynq-7010 片上系统中低能质子的灵敏度
DOI：
10.1016/j.microrel.2017.02.014
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发表时间：
2017-04
影响因子：
1.6
通讯作者：
Xuecheng Du
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Xuecheng Du
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影响因子：
1.8
作者：
S. T. Liu;H. Liu;D. Anthony;W. Heikkila;Harold L. Hughes;A. Campbell;E. L. Petersen;P. McMarr
通讯作者：
S. T. Liu;H. Liu;D. Anthony;W. Heikkila;Harold L. Hughes;A. Campbell;E. L. Petersen;P. McMarr
DOI：
10.1109/redw.2009.5336302
发表时间：
2009-07
期刊：
2009 IEEE Radiation Effects Data Workshop
影响因子：
--
作者：
R. Lawrence;J. Ross;N. Haddad;R. Reed;D. R. Albrecht
通讯作者：
R. Lawrence;J. Ross;N. Haddad;R. Reed;D. R. Albrecht
DOI：
10.1109/relphy.2006.251220
发表时间：
2006-03
期刊：
2006 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
影响因子：
--
作者：
N. Seifert;P. Slankard;M. Kirsch;B. Narasimham;V. Zia;C. Brookreson;A. Vo;S. Mitra;B. Gill;J. Maiz
通讯作者：
N. Seifert;P. Slankard;M. Kirsch;B. Narasimham;V. Zia;C. Brookreson;A. Vo;S. Mitra;B. Gill;J. Maiz
影响因子：
1.8
作者：
D. Heidel;Paul W. Marshall;Ken LaBel;J. Schwank;K. Rodbell;M. Hakey;M. Berg;Paul E. Dodd;M. Friendlich;Anthony D. Phan;C. Seidleck;M. R. Shaneyfelt;M. Xapsos
通讯作者：
D. Heidel;Paul W. Marshall;Ken LaBel;J. Schwank;K. Rodbell;M. Hakey;M. Berg;Paul E. Dodd;M. Friendlich;Anthony D. Phan;C. Seidleck;M. R. Shaneyfelt;M. Xapsos
影响因子：
1.8
作者：
R. Koga;P. Yu;K. Crawford;S. Crain;V. Tran
通讯作者：
R. Koga;P. Yu;K. Crawford;S. Crain;V. Tran