Vss-Bias-Based Measurement of Random Telegraph Noise in Hybrid SRAM PUF after Hot Carrier Injection Burn-In
Vss-Bias-Based Measurement of Random Telegraph Noise in Hybrid SRAM PUF after Hot Carrier Injection Burn-In
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热载流子注入老化后混合 SRAM PUF 中基于 Vss 偏置的随机电报噪声测量
DOI:
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发表时间:
2023
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
and Hirofumi Shinohara
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
Kunyang Liu;Yichen Tang;Shufan Xu;and Hirofumi Shinohara
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DOI:
10.1063/1.347116
发表时间:
1990
期刊:
影响因子:
--
作者:
A. Ohata;A. Toriumi;M. Iwase;K. Natori
通讯作者:
K. Natori
DOI:
10.1109/vlsi-dat.2017.7939688
发表时间:
2017
期刊:
2017 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT)
影响因子:
--
作者:
H. Shinohara;B. Zheng;Yanhao Piao;Bo Liu;Shiyu Liu
通讯作者:
Shiyu Liu
影响因子:
1.7
作者:
A. Rouf;Z. Çelik
通讯作者:
Z. Çelik
DOI:
--
发表时间:
2022
期刊:
影响因子:
--
作者:
Kunyang Liu;Kiyoshi Takeuchi;and Hirofumi Shinohara
通讯作者:
and Hirofumi Shinohara
DOI:
10.1109/edtm.2019.8731025
发表时间:
2019
期刊:
IEEE Electron Devices Technology and Manufacturing Conference
影响因子:
--
作者:
K. Ota;R. Ichihara;Masamichi Suzuki;M. Saitoh;Y. Mitani
通讯作者:
Y. Mitani