Electron holographic study of the effect of contact resistance of connected nanowires on resistivity measurement
Electron holographic study of the effect of contact resistance of connected nanowires on resistivity measurement
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连接纳米线接触电阻对电阻率测量影响的电子全息研究
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
K.Furuya
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
M.Takeguchi;M.Shimojo;M.Tanaka;R.Che;W.Zhang;K.Furuya
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DOI：
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发表时间：
2005
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影响因子：
--
作者：
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通讯作者：
K. Furuya
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Han, M;Mitsuishi, K;Furuya, K
通讯作者：
Furuya, K