Si bilayer tunnel field-effect transistor structure realized using tilted ion-implantation technique
Si bilayer tunnel field-effect transistor structure realized using tilted ion-implantation technique
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采用倾斜离子注入技术实现的硅双层隧道场效应晶体管结构
DOI:
10.1016/j.sse.2021.107993
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发表时间:
2021
影响因子:
1.7
通讯作者:
Morita Yukinori
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
Kato Kimihiko;Asai Hidehiro;Fukuda Koichi;Mori Takahiro;Morita Yukinori
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影响因子:
4.9
作者:
K. Endo;Y. Ishikawa;Y. Liu;T. Matsukawa;S. O'Uchi;K. Ishii;M. Masahara;J. Tsukada;H. Yamauchi;T. Sekigawa;H. Koike;E. Suzuki
通讯作者:
E. Suzuki
DOI:
10.1016/j.sse.2015.05.031
发表时间:
2015
期刊:
影响因子:
--
作者:
Y. Morita;T. Mori;S. Migita;W. Mizubayashi;K. Fukuda;T. Matsukawa;K. Endo;S. O'Uchi;Yongxun Liu;M. Masahara;H. Ota
通讯作者:
H. Ota
影响因子:
2.3
作者:
S. Glass;Kimihiko Kato;L. Kibkalo;J. Hartmann;S. Takagi;D. Buca;S. Mantl;Zhao Qing
通讯作者:
Zhao Qing
影响因子:
1.6
作者:
H. Asai;T. Mori;T. Matsukawa;J. Hattori;K. Endo;K. Fukuda
通讯作者:
K. Fukuda
影响因子:
1.7
作者:
C. Llorente;J. Colinge;S. Martinie;S. Cristoloveanu;J. Wan;C. L. Royer;G. Ghibaudo;M. Vinet
通讯作者:
M. Vinet