Si bilayer tunnel field-effect transistor structure realized using tilted ion-implantation technique

Si bilayer tunnel field-effect transistor structure realized using tilted ion-implantation technique
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采用倾斜离子注入技术实现的硅双层隧道场效应晶体管结构

DOI:
10.1016/j.sse.2021.107993
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发表时间:
2021
影响因子:
1.7
通讯作者:
Morita Yukinori
Morita Yukinori
中科院分区:
物理与天体物理3区
文献类型:
--
作者:
Kato Kimihiko;Asai Hidehiro;Fukuda Koichi;Mori Takahiro;Morita Yukinori

文献摘要

参考文献

被引文献

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