Ultra-fast Thermoreflectance Imaging for Electronic, Optoelectronic, and Thermal Devices
Ultra-fast Thermoreflectance Imaging for Electronic, Optoelectronic, and Thermal Devices
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适用于电子、光电和热敏设备的超快速热反射成像
DOI：
10.1109/bcicts45179.2019.8972732
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Shakouri, Ali
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Bahk, Je-Hyeong;Shakouri, Ali
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带压电位置控制的稳定热反射热成像显微镜
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium
影响因子：
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作者：
A. Shakouri;A. Ziabari;D. Kendig;J. Bahk;Y. Xuan;P. Ye;K. Yazawa;A. Shakouri
通讯作者：
A. Shakouri
纳米线变异性对环栅 III-V MOSFET 性能和可靠性的影响
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
2013 IEEE International Electron Devices Meeting
影响因子：
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作者：
S. Shin;M. Masuduzzaman;J. Gu;M. A. Wahab;N. Conrad;M. Si;P. Ye;M. Alam
通讯作者：
M. Alam
RF GaN 器件的紫外热成像以及 GaN 电阻器验证
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
ARFTG Microwave Measurement Conference
影响因子：
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作者：
D. Kendig;G. Pavlidis;S. Graham;Justin Reiter;Michael Gurr;D. Altman;Stephen Huerster;A. Shakouri
通讯作者：
A. Shakouri
用于热测试和分析的时间分辨热反射成像
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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作者：
K. Yazawa
通讯作者：
K. Yazawa
GaN 功率微波晶体管的高分辨率热反射成像
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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作者：
C. Matei;P. Aaen
通讯作者：
P. Aaen