Neutron irradiation test of depleted CMOS pixel detector prototypes
Neutron irradiation test of depleted CMOS pixel detector prototypes
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贫化 CMOS 像素探测器原型的中子辐照测试
DOI：
10.1088/1748-0221/12/02/p02021
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发表时间：
2017
影响因子：
1.3
通讯作者：
N. Wermes
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
I. Mandic;T. Hemperek;M. Daas;F. Hügging H. Krüger;D.-L. Pohl;N. Wermes
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采用艾迈斯半导体 H18 高压工艺制造的中子辐照 CMOS 传感器的辐射硬度研究
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
作者：
M. F. García;C. Gallrapp;M. Moll;D. Muenstermann
通讯作者：
D. Muenstermann
DOI：
10.1016/j.nima.2008.11.007
发表时间：
2009-02-01
影响因子：
1.4
作者：
Cindro, Vladimir;Kramberger, Gregor;Zavrtanik, Marko
通讯作者：
Zavrtanik, Marko
DOI：
10.1016/j.nima.2016.05.092
发表时间：
2016-09
影响因子：
1.4
作者：
V. Fadeyev;Z. Galloway;H. Grabas;A. Grillo;Zhijun Liang;F. Martinez-McKinney;A. Seiden;J. Volk;A. Affolder;M. Buckland;L. Meng;K. Arndt;D. Bortoletto;T. Huffman;J. John;S. McMahon;R. Nickerson;P. Phillips;R. Plackett;I. Shipsey;L. Vigani;R. Bates;A. Blue;C. Buttar;K. Kanisauskas;D. Maneuski;M. Benoit;F. D. Bello;P. Caragiulo;A. Dragone;P. Grenier;C. Kenney;F. Rubbo;J. Segal;D. Su;C. Tamma;D. Das;J. Dopke;R. Turchetta;F. Wilson;S. Worm;F. Ehrler;I. Perić;I. Gregor;M. Stanitzki;M. Hoeferkamp;S. Seidel;L. Hommels;G. Kramberger;I. Mandić;M. Mikuž;D. Muenstermann;Rui Wang;J. Zhang;M. Warren;W. Song;Q. Xiu;Hongbo Zhu
通讯作者：
V. Fadeyev;Z. Galloway;H. Grabas;A. Grillo;Zhijun Liang;F. Martinez-McKinney;A. Seiden;J. Volk;A. Affolder;M. Buckland;L. Meng;K. Arndt;D. Bortoletto;T. Huffman;J. John;S. McMahon;R. Nickerson;P. Phillips;R. Plackett;I. Shipsey;L. Vigani;R. Bates;A. Blue;C. Buttar;K. Kanisauskas;D. Maneuski;M. Benoit;F. D. Bello;P. Caragiulo;A. Dragone;P. Grenier;C. Kenney;F. Rubbo;J. Segal;D. Su;C. Tamma;D. Das;J. Dopke;R. Turchetta;F. Wilson;S. Worm;F. Ehrler;I. Perić;I. Gregor;M. Stanitzki;M. Hoeferkamp;S. Seidel;L. Hommels;G. Kramberger;I. Mandić;M. Mikuž;D. Muenstermann;Rui Wang;J. Zhang;M. Warren;W. Song;Q. Xiu;Hongbo Zhu
DMAPS：完全耗尽型单片有源像素传感器 - 模拟性能表征
影响因子：
1.3
作者：
M. Havranek;T. Hemperek;H. Krüger;Y. Fu;L. Germic;T. Kishishita;C. Marinas;T. Obermann;N. Wermes
通讯作者：
N. Wermes
DOI：
10.1016/0168-9002(90)90470-q
发表时间：
1990-03-01
影响因子：
1.4
作者：
KEMMER, J;LUTZ, G;ZIEMANN, T
通讯作者：
ZIEMANN, T