Minority Carrier Diffusion Length in Polycrystalline Silicon Solar Cell Materials Evaluated through Surface Photovoltage Measurements by Kelvin Probe Force Microscopy
Minority Carrier Diffusion Length in Polycrystalline Silicon Solar Cell Materials Evaluated through Surface Photovoltage Measurements by Kelvin Probe Force Microscopy
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通过开尔文探针力显微镜测量表面光电压来评估多晶硅太阳能电池材料中的少数载流子扩散长度
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
T. Ujihara
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
T. Takahashi;M. Takihara;T. Ujihara
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影响因子：
2.1
作者：
S. Sadewasser;T. Glatzel;S. Schuler;S. Nishiwaki;R. Kaigawa;M. Lux‐Steiner
通讯作者：
S. Sadewasser;T. Glatzel;S. Schuler;S. Nishiwaki;R. Kaigawa;M. Lux‐Steiner
通过微波电导率测量半导体中的载流子动力学
影响因子：
3.2
作者：
C. Swiatkowski;A. Sanders;K. Buhre;M. Kunst
通讯作者：
M. Kunst
用于表征黄铜矿太阳能电池中半导体表面的开尔文探针力显微镜
DOI：
10.1016/s0039-6028(01)00878-0
发表时间：
2001
期刊：
影响因子：
--
作者：
C. Sommerhalter;S. Sadewasser;T. Glatzel;T. Matthes;A. Jäger;M. Lux‐Steiner
通讯作者：
M. Lux‐Steiner
影响因子：
4.1
作者：
H. Sugimoto;M. Tajima;T. Eguchi;I. Yamaga;T. Saitoh
通讯作者：
H. Sugimoto;M. Tajima;T. Eguchi;I. Yamaga;T. Saitoh
使用压阻悬臂梁开尔文探针力显微镜对多晶硅太阳能电池进行光电压测绘
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
--
作者：
M. Takihara;Takatoshi Igarashi;T. Ujihara;Takuji Takahashi
通讯作者：
Takuji Takahashi