TEM sample preparation using a new nanofabrication technique combining electron-beam-induced deposition and low-energy ion milling
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使用结合电子束诱导沉积和低能离子铣削的新型纳米加工技术制备 TEM 样品
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
古屋一夫
中科院分区：
文献类型：
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作者：
三石和貴;下条雅幸;竹口雅樹;宋明暉;古屋一夫
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结合电子束诱导沉积和低能离子铣削的新型纳米加工技术的分辨率
DOI：
10.1143/jjap.44.5627
发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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作者：
K. Mitsuishi;M. Shimojo;Miyoko Tanaka;M. Takeguchi;K. Furuya
通讯作者：
K. Furuya
聚焦离子束铣削 Si/Si p-n 结横截面样品引起的表面损伤
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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作者：
Zhouguang Wang;T. Kato;T. Hirayama;N. Kato;K. Sasaki;H. Saka
通讯作者：
H. Saka
影响因子：
1.4
作者：
Hoyle, PC;Cleaver, JRA;Ahmed, H
通讯作者：
Ahmed, H
使用金刚石粉末制备横截面 TEM 样品的新方法
DOI：
10.1093/oxfordjournals.jmicro.a023659
发表时间：
1999
期刊：
影响因子：
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作者：
M. Kawasaki;T. Yoshioka;M. Shiojiri
通讯作者：
M. Shiojiri
电子束诱导沉积形成的纳米点的尺寸对前驱体分压的依赖性
DOI：
10.1007/s00339-003-2394-z
发表时间：
2004
期刊：
Applied Physics A
影响因子：
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作者：
Miyoko Tanaka;M. Shimojo;K. Mitsuishi;K. Furuya
通讯作者：
K. Furuya