Long-Term Aging Impacts on Spatial On-Chip Power Density and Temperature
Long-Term Aging Impacts on Spatial On-Chip Power Density and Temperature
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长期老化对空间片上功率密度和温度的影响
DOI：
10.1109/smacd58065.2023.10192234
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Tan, Sheldon X.-D.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Sachdeva, Sachin;Zhang, Jinwei;Amrouch, Hussam;Tan, Sheldon X.-D.
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老化感知电压调节
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
Design, Automation and Test in Europe
影响因子：
--
作者：
V. M. V. Santen;H. Amrouch;N. Parihar;S. Mahapatra;J. Henkel
通讯作者：
J. Henkel
DOI：
10.1109/tdmr.2013.2237910
发表时间：
2013-01
影响因子：
2
作者：
Jian-wei Fang;S. Sapatnekar
通讯作者：
Jian-wei Fang;S. Sapatnekar
DOI：
10.1109/fpl.2013.6645562
发表时间：
2013-10
期刊：
2013 23rd International Conference on Field programmable Logic and Applications
影响因子：
--
作者：
Sheng Wei;J. Zheng;M. Potkonjak
通讯作者：
Sheng Wei;J. Zheng;M. Potkonjak
设计瞬时老化效应的防护带
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
Design Automation Conference
影响因子：
--
作者：
V. M. V. Santen;H. Amrouch;J. Martín;M. Nafría;J. Henkel
通讯作者：
J. Henkel
具有可靠性意识的设计可抑制老化
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
Design Automation Conference
影响因子：
--
作者：
H. Amrouch;Behnam Khaleghi;A. Gerstlauer;J. Henkel
通讯作者：
J. Henkel