Test Scheduling for Multi-Clock Domain SoCs under Power Constraint
Test Scheduling for Multi-Clock Domain SoCs under Power Constraint
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功率约束下多时钟域SoC的测试调度
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Kimihiko Masuda and Hideo Fujiwara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Tomokazu Yoneda;Kimihiko Masuda and Hideo Fujiwara
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基于内核的片上系统的测试
DOI：
10.1109/43.913760
发表时间：
2001
期刊：
IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst.
影响因子：
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作者：
S. Ravi;G. Lakshminarayana;N. Jha
通讯作者：
N. Jha
平均功率约束下嵌入式内核的多频包装设计和优化
DOI：
10.1145/1065579.1065615
发表时间：
2005
期刊：
Proceedings. 42nd Design Automation Conference, 2005.
影响因子：
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作者：
Q. Xu;N. Nicolici;K. Chakrabarty
通讯作者：
K. Chakrabarty
多频 IP 核的包装设计
DOI：
10.1109/tvlsi.2005.848811
发表时间：
2005
影响因子：
2.8
作者：
Qiang Xu;N. Nicolici
通讯作者：
N. Nicolici
基于单元的 IC 的集成和自动化可测试性设计实现
DOI：
10.1109/ats.1997.643946
发表时间：
1997
期刊：
Proceedings Sixth Asian Test Symposium (ATS'97)
影响因子：
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作者：
Toshinobu Ono;Kazuo Wakui;Hitoshi Hikima;Yoshiyuki Nakamura;Masaaki Yoshida
通讯作者：
Masaaki Yoshida
内置自测试内核的片上系统的连续可测试性设计
DOI：
10.1023/a:1016553809732
发表时间：
2002
期刊：
Journal of Electronic Testing
影响因子：
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作者：
T. Yoneda;H. Fujiwara
通讯作者：
H. Fujiwara