Defect-Oriented LFSR Reseeding to Target Unmodeled Defects Using Stuck-at Test Sets
Defect-Oriented LFSR Reseeding to Target Unmodeled Defects Using Stuck-at Test Sets
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使用固定测试集进行面向缺陷的 LFSR 重新播种以瞄准未建模的缺陷
DOI：
10.1109/tvlsi.2010.2079961
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发表时间：
2011
影响因子：
2.8
通讯作者：
Kavousianos X
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Kavousianos X
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DOI：
10.1109/tcad.2007.907228
发表时间：
2008-02
影响因子：
2.9
作者：
Zhanglei Wang;K. Chakrabarty
通讯作者：
Zhanglei Wang;K. Chakrabarty
生成具有高缺陷覆盖率的紧凑测试集
DOI：
--
发表时间：
2009
期刊：
2009 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition
影响因子：
--
作者：
X. Kavousianos;K. Chakrabarty
通讯作者：
K. Chakrabarty
DOI：
10.1109/ats.2001.990304
发表时间：
2001-11
期刊：
Proceedings 10th Asian Test Symposium
影响因子：
--
作者：
Bernd Könemann;C. Barnhart;B. Keller;T. Snethen;Owen Farnsworth;D. L. Wheater
通讯作者：
Bernd Könemann;C. Barnhart;B. Keller;T. Snethen;Owen Farnsworth;D. L. Wheater
基于重新播种的压缩的高效种子利用[逻辑测试]
DOI：
--
发表时间：
2003
期刊：
Proceedings. 21st VLSI Test Symposium, 2003.
影响因子：
--
作者：
E. Volkerink;Subhasish Mitra
通讯作者：
Subhasish Mitra
测试集成电路的趋势
DOI：
--
发表时间：
2004
期刊：
2004 International Conferce on Test
影响因子：
--
作者：
B. Vermeulen;C. Hora;B. Kruseman;E. Marinissen;R. V. Rijsinge
通讯作者：
R. V. Rijsinge