PRESERVE: Static Test Compaction that Preserves Individual Numbers of Tests
PRESERVE: Static Test Compaction that Preserves Individual Numbers of Tests
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PRESERVE：静态测试压实，保留单独的测试数量
DOI：
10.1109/tcad.2020.3005371
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发表时间：
2021
影响因子：
2.9
通讯作者：
Pomeranz, Irith
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Pomeranz, Irith
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通过跨多个故障模型的动态模式混合有效的测试数据缩减技术
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
IEEE VLSI Test Symposium
影响因子：
--
作者：
Srinivasulu Alampally;R. Venkatesh;Priyadharshini Shanmugasundaram;R. Parekhji;V. Agrawal
通讯作者：
V. Agrawal
将多种故障模型转化为统一模型，提升ATPG效率
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
International Test Conference
影响因子：
--
作者：
Cheng;Kuen
通讯作者：
Kuen
COMPACTEST-II：一种为组合逻辑电路生成紧凑的双模式测试集的方法
DOI：
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发表时间：
1992
期刊：
IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design
影响因子：
--
作者：
L. Reddy;I. Pomeranz;S. Reddy
通讯作者：
S. Reddy
使用故障元组生成通用测试
DOI：
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发表时间：
2000
期刊：
Proceedings International Test Conference 2000 (IEEE Cat. No.00CH37159)
影响因子：
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作者：
R. Desineni;K. N. Dwarakanath;R. D. Blanton
通讯作者：
R. D. Blanton
针对过渡和固定故障的斜负载测试
DOI：
10.1109/tcad.2018.2873233
发表时间：
2019
影响因子：
2.9
作者：
Pomeranz, Irith
通讯作者：
Pomeranz, Irith