Storage-Based Logic Built-In Self-Test With Cyclic Tests
Storage-Based Logic Built-In Self-Test With Cyclic Tests
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基于存储的逻辑内置自测试和循环测试
DOI：
10.1109/tcad.2022.3233737
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发表时间：
2023
影响因子：
2.9
通讯作者：
Pomeranz, Irith
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Pomeranz, Irith
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用于汽车安全关键应用中老化影响下的性能故障预测的在线 BIST
DOI：
--
发表时间：
2011
期刊：
Latin American Test Workshop - LATW
影响因子：
--
作者：
R. S. Oliveira;J. Semião;I. Teixeira;Marcelino B. Santos;João Paulo Teixeira
通讯作者：
João Paulo Teixeira
透明扫描：一种测试生成和测试压缩扫描电路的新方法，包含有限的扫描操作
DOI：
--
发表时间：
2003
期刊：
IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst.
影响因子：
--
作者：
I. Pomeranz;S. Reddy
通讯作者：
S. Reddy
基于完全确定性存储的逻辑内置自测试
DOI：
10.1109/vts56346.2023.10139967
发表时间：
2023
期刊：
IEEE
影响因子：
--
作者：
Gopalsamy, Subashini;Pomeranz, Irith
通讯作者：
Pomeranz, Irith
基于扫描的 BIST 结构的多周期测试和部分观察
DOI：
10.1109/ats.2011.34
发表时间：
2011
期刊：
2011 Asian Test Symposium
影响因子：
--
作者：
Yasuo Sato;Hisato Yamaguchi;Makoto Matsuzono;S. Kajihara
通讯作者：
S. Kajihara
安全性与测试质量：完全嵌入式测试方法是同时拥有这两者的关键
DOI：
10.1109/itc.2004.160
发表时间：
2004
期刊：
2004 International Conferce on Test
影响因子：
--
作者：
S. Pateras
通讯作者：
S. Pateras