Neutron radiation effects on linear CCDs at different clock pulse frequency
Neutron radiation effects on linear CCDs at different clock pulse frequency
复制标题
不同时钟脉冲频率下中子辐射对线性CCD的影响
DOI：
10.1063/1.4922600
复制
发表时间：
2015-06
期刊：
影响因子：
1.6
通讯作者：
Minbo Liu
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Zhigang Xiao;Zhibin Yao;Baoping He;Minbo Liu
介绍了反应堆中子辐射对线阵CCD影响的实验。给出并比较了不同时钟脉冲频率下中子辐射后暗场中的输出电压。对退化现象进行了深入分析。在不同的时钟脉冲频率下研究了平均暗信号 (KD) 和暗信号不均匀性 (DSNU) 与中子注量的关系。分析了线性 CCD 中暗信号和 DSNU 的衰减机制。反应堆中子束通量约为1.33×108n/cm2/s。样品分别暴露于 1 × 1011、5 × 1011 和 1 × 1012 n/cm2 的 1MeV 中子当量注量下。
The experiments of reactor neutron radiation effects on linear CCDs are presented. The output voltage in dark field after neutron radiation are presented and compared at different clock pulse frequency. The degradation phenomena are analyzed in depth. The mean dark signal (KD) and dark signal non-uniformity (DSNU) versus neutron fluence is investigated at different clock pulse frequency. The degradation mechanisms of the dark signal and DSNU in linear CCDs are analyzed. The flux of the reactor neutron beams was about 1.33 × 108 n/cm2/s. The samples were exposed to 1MeV neutron-equivalent fluences of 1 × 1011, 5 × 1011, and 1 × 1012 n/cm2, respectively.
登录
查看更多内容
影响因子：
1.8
作者：
E. Martín;T. Nuns;J. David;O. Gilard;M. Boutillier;A. Penquer
通讯作者：
E. Martín;T. Nuns;J. David;O. Gilard;M. Boutillier;A. Penquer
核反应堆中子辐照对 CMOS APS 图像传感器的位移损伤效应
影响因子：
1.6
作者：
Wang, Zujun;Huang, Shaoyan;Sheng, Jiangkun
通讯作者：
Sheng, Jiangkun
影响因子：
1.8
作者：
Srour, J. R.;Palko, J. W.
通讯作者：
Palko, J. W.
影响因子：
1.8
作者：
J. R. Srour;Z. Shanfield;R. Hartmann;S. Othmer;D. Newberry
通讯作者：
J. R. Srour;Z. Shanfield;R. Hartmann;S. Othmer;D. Newberry
影响因子：
1.8
作者：
Virmontois, Cedric;Goiffon, Vincent;Bardoux, Alain
通讯作者：
Bardoux, Alain