Storage-Based Built-In Self-Test for Gate-Exhaustive Faults
Storage-Based Built-In Self-Test for Gate-Exhaustive Faults
复制标题
针对栅极穷举故障的基于存储的内置自检
DOI：
10.1109/tcad.2020.3035133
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发表时间：
2021
影响因子：
2.9
通讯作者：
Pomeranz, Irith
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Pomeranz, Irith
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用于汽车安全关键应用中老化影响下的性能故障预测的在线 BIST
DOI：
--
发表时间：
2011
期刊：
Latin American Test Workshop - LATW
影响因子：
--
作者：
R. S. Oliveira;J. Semião;I. Teixeira;Marcelino B. Santos;João Paulo Teixeira
通讯作者：
João Paulo Teixeira
晶体管老化测试
DOI：
--
发表时间：
2009
期刊：
IEEE VLSI Test Symposium
影响因子：
--
作者：
A. H. Baba;S. Mitra
通讯作者：
S. Mitra
用于系统内汽车测试的确定性 Stellar BIST
DOI：
--
发表时间：
2018
期刊：
International Test Conference
影响因子：
--
作者：
Yingdi Liu;N. Mukherjee;J. Rajski;S. Reddy;J. Tyszer
通讯作者：
J. Tyszer
质量和单卡故障
DOI：
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发表时间：
1993
期刊：
International Test Conference
影响因子：
--
作者：
E. McCluskey
通讯作者：
E. McCluskey
基于预计算测试集划分和缩减的基于存储的内置扫描电路测试模式生成方法
DOI：
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发表时间：
2002
期刊：
IEEE Trans. Computers
影响因子：
--
作者：
I. Pomeranz;S. Reddy
通讯作者：
S. Reddy