Direct Observation of Removal of SiO2 Nano-Particles from Silica Surfaces: Evanescent Field Microscopy Study and Shear Flow Acting Moment（校閲中）
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直接观察二氧化硅表面去除 SiO2 纳米颗粒的情况：倏逝场显微镜研究和剪切流作用力矩（正在审查）
DOI：
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发表时间：
2023
影响因子：
1.5
通讯作者：
Hirokuni Hiyama
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Yutaka Terayama;Panart Khajornrungruang;Keisuke Suzuki;Hibiki Fujishima;Hamada Satomi;Yutaka Wada;Hirokuni Hiyama
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用于测定倏逝场中单个亚 100 纳米颗粒尺寸的光散射模型
影响因子：
1.5
作者：
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通讯作者：
S. Babu
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DOI：
10.1149/09202.0191ecst
发表时间：
2019
期刊：
ECS Transactions
影响因子：
--
作者：
Yutaka Terayama;P. Khajornrungruang;Keisuke Suzuki;Kohei Kusatsu;Satomi Hamada;Y. Wada;Hirokuni Hiyama
通讯作者：
Hirokuni Hiyama
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DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
Key Engineering Materials 295-296
影响因子：
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作者：
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通讯作者：
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DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
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影响因子：
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作者：
K. Kimura;Keisuke Suzuki;P. Khajornrungruang
通讯作者：
P. Khajornrungruang
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DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
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影响因子：
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作者：
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通讯作者：
P. Mertens