Short Note: Deep single step vertical ICP-RIE etching of ion beam sputter deposited SiO2/Si multilayer stacks

Short Note: Deep single step vertical ICP-RIE etching of ion beam sputter deposited SiO2/Si multilayer stacks
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简短说明:离子束溅射沉积 SiO2/Si 多层堆叠的深度单步垂直 ICP-RIE 蚀刻

DOI:
10.1016/j.mee.2013.07.018
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发表时间:
2014
影响因子:
2.3
通讯作者:
H. Hillmer
H. Hillmer
中科院分区:
工程技术3区
文献类型:
--
作者:
F. Messow;C. Welch;A. Eifert;W. C. Ang;N. S. Hoe;T. Kusserow;H. Hillmer

文献摘要

参考文献

被引文献

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