Short Note: Deep single step vertical ICP-RIE etching of ion beam sputter deposited SiO2/Si multilayer stacks
Short Note: Deep single step vertical ICP-RIE etching of ion beam sputter deposited SiO2/Si multilayer stacks
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简短说明:离子束溅射沉积 SiO2/Si 多层堆叠的深度单步垂直 ICP-RIE 蚀刻
DOI:
10.1016/j.mee.2013.07.018
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发表时间:
2014
影响因子:
2.3
通讯作者:
H. Hillmer
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
F. Messow;C. Welch;A. Eifert;W. C. Ang;N. S. Hoe;T. Kusserow;H. Hillmer
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DOI:
--
发表时间:
1990
期刊:
影响因子:
--
作者:
L. Yang;Mingcho Wu;K. Tai;T. Tanbun;R. Logan
通讯作者:
R. Logan
DOI:
--
发表时间:
1975
期刊:
影响因子:
--
作者:
R. Heinecke
通讯作者:
R. Heinecke
影响因子:
2.3
作者:
Welch, CC;Goodyear, AL;Mollenhauer, T
通讯作者:
Mollenhauer, T
影响因子:
2.2
作者:
Marty, F;Rousseau, L;Bourouina, T
通讯作者:
Bourouina, T
DOI:
10.1109/jstqe.2002.801692
发表时间:
2002-07-01
影响因子:
4.9
作者:
Emsley, MK;Dosunmu, O;Ünlü, MS
通讯作者:
Ünlü, MS