Huffman-Based Test Response Coding
Huffman-Based Test Response Coding
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基于霍夫曼的测试响应编码
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
H.Ishihara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H.Ichihara;T.Saiki;H.Ichihara;T.Saiki;T.Saiki;H.Ishihara
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基于统计编码的测试压缩的测试生成（VLSI测试与验证特刊）
影响因子：
0.7
作者：
H. Ichihara;Atsuhiro Ogawa;Tomoo Inoue;A. Tamura
通讯作者：
A. Tamura
使用预先计算的测试集对时序电路进行内置自测试
DOI：
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发表时间：
1998
期刊：
Proceedings of the ... IEEE VLSI Test Symposium
影响因子：
--
作者：
V. Iyengar;K. Chakrabarty;B. Murray
通讯作者：
B. Murray
测试响应的最佳零混叠空间压缩
DOI：
10.1109/12.736427
发表时间：
1998
期刊：
IEEE Trans. Computers
影响因子：
--
作者：
K. Chakrabarty;B. Murray;J. Hayes
通讯作者：
J. Hayes
使用统计编码生成用于测试压缩/解压缩方案的小型测试集
DOI：
10.1109/delta.2002.994658
发表时间：
2002
期刊：
Proceedings First IEEE International Workshop on Electronic Design, Test and Applications '2002
影响因子：
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作者：
H. Ichihara;Tomoo Inoue
通讯作者：
Tomoo Inoue
嵌入式内核的空间和时间压缩方案
DOI：
10.1109/test.2001.966670
发表时间：
2001
期刊：
Proceedings International Test Conference 2001 (Cat. No.01CH37260)
影响因子：
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作者：
O. Sinanoglu;A. Orailoglu
通讯作者：
A. Orailoglu