SAT-based post-processing for regional capture power reduction in at-speed scan test generation
SAT-based post-processing for regional capture power reduction in at-speed scan test generation
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基于 SAT 的后处理，可降低全速扫描测试生成中的区域捕获功率
DOI：
10.1109/ets.2016.7519327
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
X. Wen
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
S. Eggersglüß;K. Miyase;X. Wen
随着越来越多复杂的低功耗设计技术被应用于现代LSI芯片，以大幅度降低功能功耗，由于与功能功耗相比，测试功耗过高，无故障芯片在生产测试中失败的风险越来越大。然而，现有的低功耗ATPG方法受到严重的测试数据膨胀的影响，并且经常使用不集中的全局测试功耗降低方法。本文提出了一种新的基于优化sat的高速扫描测试生成方法，该方法明确针对在预生成的紧凑测试集中消除高捕获功率测试向量。该方法利用布局信息以集中的区域方式减少捕获切换活动。实验表明，该方法能够有效地消除大量高捕获功率的测试向量，既不会造成测试数据膨胀，也不会造成故障覆盖损失。
With more and more sophisticated low-power design techniques being applied to modern LSI chips for aggressive functional power reduction, the risk of fault-free chips falsely failing production test grows due to excessively high test power compared with functional power. Existing low-power ATPG methods, however, suffer from severe test data inflation and often use unfocused global test power reduction. This paper proposes a novel optimization-SAT-based at-speed scan test generation method that is explicitly targeted at eliminating high-capture-power test vectors in a pre-generated compact test set. This method employs layout information in reducing capture switching activity in a focused regional manner. Experiments demonstrate that the proposed method can effectively eliminate a large number of high-capture-power test vectors with neither test data inflation nor fault coverage loss.
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DOI：
10.1109/ets.2012.6233026
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影响因子：
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通讯作者：
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