Formal Test Point Insertion for Region-based Low-Capture-Power Compact At-Speed Scan Test
Formal Test Point Insertion for Region-based Low-Capture-Power Compact At-Speed Scan Test
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用于基于区域的低捕获功耗紧凑型全速扫描测试的正式测试点插入
DOI：
10.1109/ats.2016.41
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
X. Wen
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
S. Eggersglüß;S. Holst;D. Tille;K. Miyase;X. Wen
发射切换活动（LSA）是一个严重的问题，在全速测试的集成电路，因为局部LSA可能会导致严重的IR下降，从而失败。通常通过特殊的低功率测试生成技术减少切换活动来减轻过度的LSA，通常导致严重的测试模式膨胀和高测试成本。这项工作介绍了一种新的概念，低捕获功率测试点（LCP-TPs），插入，以减少开关活动在关键的高捕获功率（HCP）地区。LCP-TP还有助于保持较高的测试压实能力。提出了一种基于优化SAT的过程，以计算具有有效捕获功率降低的紧凑全速测试集的一小组最优LCP-TP位置。实验结果清楚地证明了LCP-TP插入的优点。
Launch-Switching-Activity (LSA) is a serious problem during at-speed testing of integrated circuits, since localized LSA may lead to severe IR-drop and thus failures. The excessive LSA is conventionally mitigated by reducing the switching activity through special low-power test generation techniques, typically resulting in severe test pattern inflation and high test costs. This work introduces a novel concept of Low-Capture-Power Test Points (LCP-TPs), which are inserted to reduce switching activity in critical High-Capture-Power (HCP) regions. LCP-TPs also help in retaining high test compaction capability. An optimization- SAT based procedure is proposed to compute a small set of optimal LCP-TP locations for compact at-speed test sets with effective capture power reduction. Experimental results clearly demonstrate the advantages of LCP-TP insertion.
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