A novel test data compression approach based on bit reversion
A novel test data compression approach based on bit reversion
复制标题
一种基于位反转的新型测试数据压缩方法
DOI：
10.1587/elex.14.20170502
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发表时间：
2017-06
影响因子：
0.8
通讯作者：
Wang Wei
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Cai Shuo;Zhou Yinbo;Liu Peng;Yu Fei;Wang Wei
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DOI：
10.1587/elex.8.1367
发表时间：
2011
期刊：
IEICE Electron. Express
影响因子：
--
作者：
Zhiqiang You;Weizheng Wang;Zhiping Dou;Peng Liu;Jishun Kuang
通讯作者：
Zhiqiang You;Weizheng Wang;Zhiping Dou;Peng Liu;Jishun Kuang
DOI：
10.1109/43.913754
发表时间：
2001-03-01
影响因子：
2.9
作者：
Chandra, A;Chakrabarty, K
通讯作者：
Chakrabarty, K
DOI：
10.1109/tcad.2003.811452
发表时间：
2003-06-01
影响因子：
2.9
作者：
Jas, A;Ghosh-Dastidar, J;Touba, NA
通讯作者：
Touba, NA
DOI：
10.1109/date.2002.998363
发表时间：
2002-03
期刊：
Proceedings 2002 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition
影响因子：
--
作者：
P. T. Gonciari;B. Al-Hashimi;N. Nicolici
通讯作者：
P. T. Gonciari;B. Al-Hashimi;N. Nicolici
DOI：
10.1155/2010/670476
发表时间：
2010
期刊：
VLSI Design
影响因子：
--
作者：
U. Mehta;K. Dasgupta;N. Devashrayee
通讯作者：
U. Mehta;K. Dasgupta;N. Devashrayee