Low Capture Switching Activity Test Generation for Reducing IR-Drop in At-Speed Scan Testing
Low Capture Switching Activity Test Generation for Reducing IR-Drop in At-Speed Scan Testing
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低捕获开关活动测试生成，可减少全速扫描测试中的 IR 压降
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
K. Kinoshita
中科院分区：
文献类型：
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作者：
X. Wen;K. Miyase;T. Suzuki;S. Kajiihara;L.-T. Wang;K.K. Saluja;K. Kinoshita
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用于电源噪声分析的模式生成和估计
DOI：
10.1109/vts.2005.65
发表时间：
2005
期刊：
23rd IEEE VLSI Test Symposium (VTS'05)
影响因子：
--
作者：
M. Nourani;M. Tehranipoor;N. Ahmed
通讯作者：
N. Ahmed
关于降低测试期间的峰值电流和功率
DOI：
10.1109/isvlsi.2005.53
发表时间：
2005
期刊：
IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI: New Frontiers in VLSI Design (ISVLSI'05)
影响因子：
--
作者：
Wei Li;S. Reddy;I. Pomeranz
通讯作者：
I. Pomeranz
对纳米相关时序故障的测试向量进行快速、布局感知的验证
DOI：
10.1109/icvd.2004.1260984
发表时间：
2004
期刊：
17th International Conference on VLSI Design. Proceedings.
影响因子：
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作者：
A. Kokrady;C. Ravikumar
通讯作者：
C. Ravikumar
VLSI 电路的功率受限测试
DOI：
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发表时间：
2003
期刊：
影响因子：
--
作者：
N. Nicolici;B. Al
通讯作者：
B. Al
使用过程监控结构延迟缺陷筛选
DOI：
10.1109/vtest.2004.1299224
发表时间：
2004
期刊：
22nd IEEE VLSI Test Symposium, 2004. Proceedings.
影响因子：
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作者：
S. Mitra;E. Volkerink;E. McCluskey;S. Eichenberger
通讯作者：
S. Eichenberger