Scanning Nonlinear Dielectric Microscope with Super High Resolution
Scanning Nonlinear Dielectric Microscope with Super High Resolution
复制标题
超高分辨率扫描非线性电介质显微镜
DOI：
--
复制
发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Yasuo Cho
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
K.Aamodt;T.Sugitate;他;Takashi Sakamoto;Asami Ohsugi et al.;Hyuck Joon Kwon et al.;Makoto Endo;Hidemitsu Furukawa et al.;T.Sugitate;Yasuo Cho
登录
查看更多内容
使用集总常数谐振探头的扫描非线性介电显微镜及其在铁电极化分布研究中的应用
影响因子：
1.5
作者：
Yasuo Cho;Shigeyuki Atsumi;K. Nakamura
通讯作者：
K. Nakamura
影响因子：
1.6
作者：
Cho, YS;Kirihara, A;Saeki, T
通讯作者：
Saeki, T
影响因子：
4
作者：
Yasuo Cho;S. Hashimoto;N. Odagawa;K. Tanaka;Y. Hiranaga
通讯作者：
Yasuo Cho;S. Hashimoto;N. Odagawa;K. Tanaka;Y. Hiranaga
通过扫描非线性介电显微镜观察存储在闪存浮栅中的电荷
影响因子：
3.5
作者：
K. Honda;S. Hashimoto;Yasuo Cho
通讯作者：
Yasuo Cho
在微擦除循环后使用扫描非线性介电显微镜观察金属 SiO_2-Si_3N_4-SiO_2 半导体型闪存薄栅膜中电子和空穴的可视化
DOI：
--
发表时间：
2005
期刊：
Appl. Phys. Lett. 86・6
影响因子：
--
作者：
K.Omae;Y.Kawakami;S.Fujita;Y.Narukawa;T.Mukai;宮崎誠一;Koichiro Honda
通讯作者：
Koichiro Honda