Cf252 neutron soft error tolerance of an optoelectronic field programmable gate array VLSI
Cf252 neutron soft error tolerance of an optoelectronic field programmable gate array VLSI
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光电现场可编程门阵列VLSI的CF252中子软容错
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Minoru Watanabe
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Blowes Shane A.;Daskalova Gergana N.;Dornelas Maria;Engel Thore;Gotelli Nicholas J.;Magurran Anne E.;Martins In?s S.;McGill Brian;McGlinn Daniel J.;Sagouis Alban;Shimadzu Hideyasu;Supp Sarah R.;Chase Jonathan M.;萩原学;前田圭介;Minoru Watanabe
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