Efficient Test Set Modification for Capture Power Reduction
Efficient Test Set Modification for Capture Power Reduction
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有效的测试装置修改以降低捕获功率
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
K.K.Saluja
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
X.Wen;T.Suzuki;S.Kajihara;K.Miyase;Y.Minamoto;L.-T.Wang;K.K.Saluja
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DOI：
10.1109/iccad.2004.1382653
发表时间：
2004-11
期刊：
IEEE/ACM International Conference on Computer Aided Design, 2004. ICCAD-2004.
影响因子：
--
作者：
X. Wen;T. Miyoshi;S. Kajihara;Laung-Terng Wang;K. Saluja;K. Kinoshita
通讯作者：
X. Wen;T. Miyoshi;S. Kajihara;Laung-Terng Wang;K. Saluja;K. Kinoshita
低功耗扫描测试的新方法
DOI：
10.1109/test.2003.1270873
发表时间：
2003
期刊：
International Test Conference, 2003. Proceedings. ITC 2003.
影响因子：
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作者：
T. Yoshida;M. Watari
通讯作者：
M. Watari
关于降低测试期间的峰值电流和功率
DOI：
10.1109/isvlsi.2005.53
发表时间：
2005
期刊：
IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI: New Frontiers in VLSI Design (ISVLSI'05)
影响因子：
--
作者：
Wei Li;S. Reddy;I. Pomeranz
通讯作者：
I. Pomeranz
DOI：
10.1109/iccd.2002.1106769
发表时间：
2002
期刊：
Proceedings. IEEE International Conference on Computer Design: VLSI in Computers and Processors
影响因子：
--
作者：
K. Miyase;S. Kajihara;I. Pomeranz;S. Reddy
通讯作者：
S. Reddy
VLSI 电路的功率受限测试
DOI：
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发表时间：
2003
期刊：
影响因子：
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作者：
N. Nicolici;B. Al
通讯作者：
B. Al