An optimal test bus design for transparency-based soc test
An optimal test bus design for transparency-based soc test
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基于透明的 soc 测试的最优测试总线设计
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
H.Fujiwara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.Yoneda;A.Shuto;H.Ichihara;T.Inoue;H.Fujiwara
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基于内核的片上系统的测试
DOI：
10.1109/43.913760
发表时间：
2001
期刊：
IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst.
影响因子：
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作者：
S. Ravi;G. Lakshminarayana;N. Jha
通讯作者：
N. Jha
基于重用的片上网络测试访问和集成测试调度
DOI：
10.1109/date.2006.244143
发表时间：
2006
期刊：
Proceedings of the Design Automation & Test in Europe Conference
影响因子：
--
作者：
Chunsheng Liu;Z. Link;D. Pradhan
通讯作者：
D. Pradhan
基于总线的可编程 SoC 中 IP 核的自测试方法
DOI：
10.1109/vts.2001.923439
发表时间：
2001
期刊：
Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001
影响因子：
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作者：
Jing;Madhu K. Iyer;K. Cheng
通讯作者：
K. Cheng
基于单元的 IC 的集成和自动化可测试性设计实现
DOI：
10.1109/ats.1997.643946
发表时间：
1997
期刊：
Proceedings Sixth Asian Test Symposium (ATS'97)
影响因子：
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作者：
Toshinobu Ono;Kazuo Wakui;Hitoshi Hikima;Yoshiyuki Nakamura;Masaaki Yoshida
通讯作者：
Masaaki Yoshida
内置自测试内核的片上系统的连续可测试性设计
DOI：
10.1023/a:1016553809732
发表时间：
2002
期刊：
Journal of Electronic Testing
影响因子：
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作者：
T. Yoneda;H. Fujiwara
通讯作者：
H. Fujiwara