Fatigue Behavior of LP-CVD Polycrystalline Silicon Thin Film

Fatigue Behavior of LP-CVD Polycrystalline Silicon Thin Film
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LP-CVD多晶硅薄膜的疲劳行为

DOI:
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发表时间:
2009
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
Q. Chen
Q. Chen
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
S. Maeda;H. Komatsu;S. Kariya;M. Murai;K. Kusukawa;Q. Chen

文献摘要

参考文献

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