Accurate negative bias temperature instability lifetime prediction based on hole injection
Accurate negative bias temperature instability lifetime prediction based on hole injection
复制标题
基于空穴注入的精确负偏压温度不稳定性寿命预测
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Akinobu Teramoto
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hanada R;Leibbrandt A;Hanada T;Kitaoka S;Furuyashiki T;Fujihara H;Trichereau J;Paolino M;Qadri F;Plehm R;Klaere S;Komnenovic V;Mimata H;Yoshimatsu H;Takahashi N;von Haeseler A;Bader M;Kilic SS;Ueta Y;Pifl C;Narumiya S,Penninger JM.;Akinobu Teramoto
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DOI：
10.1016/j.microrel.2006.06.001
发表时间：
2007
期刊：
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影响因子：
--
作者：
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通讯作者：
T. Ohmi