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Erweiterung der Ausstattung für ein Transmissions-Elektronen-Mikroskop

透射电子显微镜设备的扩建

基本信息

批准号：
118066668
负责人：
Professor Dr.-Ing. Mirko Schaper
金额：
--
依托单位：
Lehrstuhl für Werkstoffkunde (LWK)
依托单位国家：
德国
项目类别：
Research Grants
财政年份：
2009
资助国家：
德国
起止时间：
2008-12-31 至 2011-12-31
项目状态：
已结题

来源：
https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/118066668?language=en
关键词：
Erweiterung der Ausstattung ein Transmissions

项目摘要

Das maximale Auflösungsvermögen bildgebender Verfahren hängt von der Wellenlänge der verwendeten Strahlung des Systems ab. Es können in der Regel Objektstrukturen getrennt werden, deren Abstand in der Größenordnung der verwendeten Wellenlänge liegt [HER04]. Bei lichtmikroskopischen Systemen werden Wellenlängen im sichtbaren Bereich (ca. 500 nm) eingesetzt, so dass eine maximale Vergrößerung von etwa 1:1000 vorliegt. Im Transmissionselektronenmikroskop (TEM) sind die Wellenlängen der Elektronen abhängig von der Beschleunigungsspannung des Gerätes (typischenweise etwa 100 kV bis 250 kV). Bei hochauflösenden Geräten können Auflösungen von ca. 0,1 nm erreicht werden. Die maximale Vergrößerung beträgt deshalb mehr als das Tausendfache im Vergleich zu Lichtmikroskopen bzw. mehr als Zehnfache bezogen auf Rasterelektronenmikroskope (REM). Die kleinsten darstellbaren Strukturen sind einzelne Atome [BOR02, HIR77, SCHU07]. Hochauflösende Aufnahmen mittels Transmissionselektronenmikroskopie sind am Institut für Werkstoffkunde derzeit nicht möglich, da eine Bildgebung am Ende des Strahlengangs im Transmissionselektronenmikroskop zurzeit nicht gegeben ist. Aktuelle in Publikationen dokumentierte Forschungsarbeiten im Bereich der Transmissionselektronenmikroskopie beschäftigen sich unter anderem mit der Analyse des Verhaltens von Versetzungen während einer Verformung. Die dabei präsentierten und zum Teil überraschenden Ergebnisse [HEM08, SHA08] werden mit Hilfe von Dehnhaltern erzeugt, die es ermöglichen, TEM-Proben währende der Durchstrahlung zu verformen. Ziel dieses Antrages ist daher die Beschaffung einer CCD-Kamera für hochauflösende Aufnahmen sowie eines Dehnhalters zur Manipulation von Proben im Strahlengang.

Das maximale Auflösungsvermögen bildgebender Verfahren hängt von der Wellenlänge der verwendeten Strahlung des Systems ab. Es können in der Regel Objektstrukturen getrennt韦尔登，deren Abstand in der Größbenchdung der verwendeten Wellenlänge liegt [HER 04]. Bei lichtmikroskopischen Systemen韦尔登Wellenlängen im sichtbaren Bereich（ca. 500 nm），因此最大误差为1：1000。透射电子显微镜（TEM）是用于电子设备的一种良好的设备（通常为100 kV至250 kV）。这是一个很好的例子。0.1 nm误差韦尔登。最大限度地提高照明设备的使用效率梅尔多是在照明设备领域。梅尔als Zehnfache bezogen auf Rastektronenmikroskope（REM）.最小的结构是一个原子[BOR 02，HIR 77，SCHU 07]。Hochauflösende Aufnahmen mittels Transmissionselektronenmikroskopie sind am Institut für Werkstoffkunde derzeit nicht möglich，da eine Bildebung am Ende des Strahangs im Transmissionselektronenmikroskop zurzeit nicht geben ist. Aktuelle in Publikationen documentierte Forschungsarbeiten im Bereich der Transmissionselektronenmikroskopie beschäftigen sich unter anderem mit der Analyse des Verhaltens von Versetzungen während einer Verformung. Die dabei präsentierten und zum Teil überraschenden Ergebnisse [HEM 08，SHA 08]韦尔登mit Hilfe von Dehnhaltern erzeugt，die es ermöglichen，TEM-Proben wäspende de der Durchstrahlung zu verformen. Ziel dieses Antrages ist daher die Beschaffung einer CCD-Kamera für hochauflösende Aufnahmen sowie eines Dehnhalters zur Manipulation von Proben im Strahenang.