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Probenmanipulation für mechanische und elektrische in-situ Messungen im Transmissionselektronenmikroskop

透射电子显微镜中机械和电气原位测量的样品操作

基本信息

批准号：
195861669
负责人：
金额：
--
依托单位：
Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg
依托单位国家：
德国
项目类别：
Major Research Instrumentation
财政年份：
2011
资助国家：
德国
起止时间：
2010-12-31 至无数据
项目状态：
未结题

来源：
https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/195861669?language=en
关键词：
Probenmanipulation mechanische und elektrische situ

项目摘要

„Die Arbeitsgruppen im Erlanger Exzellenzcluster Engineering of Advanced Materials beschäftigen sich mit Materialien mit hierarchischem Strukturaufbau und maßgeschneiderten Eigenschaften. Eine wichtige Voraussetzung für die Entwicklung solcher Materialien ist die Möglichkeit, Struktur und Materialeigenschaften auf verschiedenen Längenskalen charakterisieren und miteinander korrelieren zu können. Die geplante Beschaffung einer Manipulatoreinheit für nanomechanische u. nanoelektrische in-situ Messungen in Transmissionselektronenmikroskopen schließt hier eine wichtige Lücke. Durch die Kombination von TEM-AFM und TEM-Nanoindenter werden nanomechanische Untersuchungen in überlappenden Längenbereichen von 1 nm bis 1 µm und Kräftebereichen von 1 nN bis 2 mN möglich. Mit dem TEM-STM Manipulator können elektrische Messungen bis in den 10 pA-Bereich bei gleichzeitiger Beobachtung von Nanostrukturen und ihrer Kontakte durchgeführt werden. Die Forschungsvorhaben, in denen die verschiedenen Möglichkeiten der Manipulatoreinheit kombiniert werden sollen, reichen von Fragestellungen zu Kohäsionskräften zwischen Nanopartikeln über größenabhängige Defektprozesse bei der Partikelzerkleinerung, nanoelektrische und -mechanische Eigenschaften metallischer Nanodrähte, die in transparenten Elektroden eingesetzt werden, Aspekten der Bildung neuer C-Modifikationen durch mechanische Delamination, bis hin zu der für die druckbare Elektronik zentralen Frage des Ladungstransports über Partikelgrenzflächen in nanopartikulären Schichten.“

“Die Arbeitsgruppen im埃尔朗格Exzellenzcluster Engineering of Advanced Materials beschäftigen sich mit Materialien mit hierarchischem Strukturaufbau und maßgeschneiderten Eigenschaften. Eine wichtige Voraussetzung für die Entwicklung solcher Materialien ist die Möglichkeit，Struktur und Materialeigenschaften auf versatiedenen Längenskalen charakterisieren und miteinander korrelieren zu können. Die geplante Beschaffung einer Manipulatoreinheit für nanomechanische u. nanoelektrische in situ Messungen in Transmissionselektronenmikroskopen schließt scheine wichtige Lücke. TEM-原子力显微镜和TEM-纳米压痕韦尔登的结合可以在1 nm到1 μm的高度上进行纳米力学研究，并在1 nN到2 mN的高度上进行纳米力学研究。TEM-STM机械手的电气测量值比纳米结构的测量值小10 pA，并通过韦尔登进行接触。研究结果表明，在复杂的机械操作中，纳米颗粒的碎裂过程在纳米颗粒表面形成了一个非常大的缺陷，纳米颗粒的电和机械特性使纳米颗粒的金属化过程变得更加复杂，通过机械分层实现了新的C-改性，bis hin zu der für die druckbare Elektronik zentralen Frage des Ladungtranssports über Partikelyzflächen in nanopartikulären Schichten.“

项目成果

期刊论文数量（2）

专著数量（0）

科研奖励数量（0）

会议论文数量（0）

专利数量（0）

Direct observation of electron-beam-induced densification and hardening of silica nanoballs by in situ transmission electron microscopy and finite element method simulations

DOI：
10.1016/j.actamat.2014.05.046
发表时间：
2014-10-15
期刊：
ACTA MATERIALIA
影响因子：
9.4
作者：
Mackovic, M.;Niekiel, F.;Spiecker, E.
通讯作者：
Spiecker, E.

A microspectroscopic insight into the resistivity switching of individual Ag-TCNQ nanocrystals.

对单个 Ag-TCNQ 纳米晶体电阻率转换的显微光谱观察

DOI：
10.1039/c5cp02207j
发表时间：
2015
期刊：
Physical chemistry chemical physics : PCCP
影响因子：
0
作者：
Benedikt Rösner;Ke Ran;Ute Schmidt;Benjamin Butz;Erdmann Spiecker;Rainer H. Fink
通讯作者：
Rainer H. Fink