Identifikation und Test von anfälligen Schaltungskomponenten unter Prozessvariationen

工艺变化下易损电路元件的识别和测试

• 批准号: 22320774
• 负责人: Professor Dr. Bernd Becker
• 金额: --
• 依托单位: Institut für Informatik (IIF)
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Research Grants
• 财政年份: 2006
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 2005-12-31 至 2012-12-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/22320774?language=en
• 关键词: Identifikation; und; Test; von; anf

Nanoelektronische Schaltungen und Systeme sind zunehmend von massiven statistischen Prozessvariationen betroffen. Um weiterhin einen stabilen Betrieb zu gewährleisten, müssen sie robust ausgelegt, d.h. mit Fehlerschutzmechanismen auf unterschiedlichen Ebenen versehen sein. Im Rahmen des geplanten Vorhabens sollen Methoden entwickelt werden, welche die Anfälligkeit von Systemen gegenüber Prozessvariationen analysieren. Dabei sollen besonders kritische, d.h. fehleranfällige Komponenten identifiziert werden, auch unter der Berücksichtigung von Fehlerbehandlung, die gegebenenfalls auf Systemebene bereits vorgenommen wird. Das methodische Vorgehen stützt sich auf eine Weiterentwicklung des in der ersten Förderperiode untersuchten Konzepts des akzeptablen Verhaltens. Die Ergebnisse dieser Analyse können zur Steuerung von (im Rahmen des Vorhabens nicht weiter betrachteten) zusätzlichen robustheitsoptimierenden Maßnahmen verwendet werden. Es sollen vielmehr Testmustergenerierungsansätze (ATPG) für die ermittelten fehleranfälligen Komponenten entwickelt werden. Dabei sind im Allgemeinen hochkomplexe ATPG-Instanzen mit einer Vielzahl von Nebenbedingungen zu lösen (Multi- Constraint-ATPG). Als Methode soll vor allem (entsprechend angepasste) SAT-Basistechnologie zum Einsatz kommen, deren Wirksamkeit für verwandte Problemklassen in den letzten Jahren überzeugend demonstriert wurde.

纳米电子学的研究和系统是由统计过程的变化引起的。在另一个稳定的Betrieb zu gewährleisten，müssen sie robust ausgelegt，d.h. mit Fehlerschutzmechanismen auf unterschedlichen Ebenen versehen seen seen.通过韦尔登，可以对系统进行分析。大北索伦贝森德·克里蒂谢公司。在对系统进行评估时，可以识别出韦尔登，也可以通过对系统进行评估来实现。Das methodische Vorgehen stützt sich auf eine Weiterentwicklung des in der ersten Förderperiode untersuchten Konzepts des akzeptablen Verhaltens.该结果分析了（在前体部分的范围内）坚固的最高强度材料韦尔登的稳定性。Es sollen vielmehr Testmustergenerungsansätze（ATPG）für die ermittelten fehleranfäligen Komponenten entwickelt韦尔登. Dabei sind im Allgemeinen hochkomplex ATPG-Instanzen mit einer Vielzahl von Nebenbedingungen zu lösen（Multi-Constraint-ATPG）.所有方法都是为了在未来几年内解决所有需要解决的问题。