Entwicklung von hierarchisch orientierten Methoden und Werkzeugen für den Test und Selbsttest hochintegrierter Systeme (SoCs)

MIT der集成冯·梅尔ALS 1亿人。多处理器系统芯片(MP-SoC)集成了多处理器系统芯片。多处理器-系统柴油艺术MIT 2双3 CPU未经授权的架构，在移动通信Sogar的最先进的。这是一个非常重要的问题，也是一个非常重要的问题。Testverfahren für SoCs müssen nur den Fertigangstest von ICs ermöglichen，sondern auch den Selbsttest im Feld unterstützen.在硬件和软件实现方面，我们在硬件和软件实现方面都做得很好。它是测试工具，也是一种广泛的编织方法。它包含了一种新的方法，即“指令级DFI”。Dagegen是两种硬件-/软件-基本的Verfahren，它是从SoC到MIT的测量方法，也是Sogar ALSübergeordneter Selbsttest Organisierbar sind，Bisher kaum verfolgt。麻省理工学院的所有项目都是这样的，层级结构的方向是测试，它的统计和动态是在Kombination den Fertigangstest and den Selbsttest im Feld Funterst können的统计和动态。

Mit der Integration von mehr als 100 Mio. Transistoren auf einem Chip ist es seit einigen Jahren möglich, komplexe Systeme mit mehreren Prozessoren und unterschiedlichen Bus-Systemen auf einem Chip in Form eines "Multi-Processor System on a Chip" (MP-SoC) zu integrieren. Multi-Prozessor-Systeme dieser Art mit 2 bis 3 CPUs unterschiedlicher Architektur sind derzeit in der mobilen Kommunikation sogar "state-of-the-art". Die Verifikation und erst recht der Test solcher Systeme bieten eine Reihe ungelöster Probleme, welche den Einsatz von MP-S0Cs in sicherheitskritischen Anwendungen derzeit noch zu einem Abenteuer werden lassen. Testverfahren für SoCs müssen nicht nur den Fertigungstest von ICs ermöglichen, sondern auch den Selbsttest im Feld unterstützen. Benötigt werden für solche Probleme hierarchisch organisierte Verfahren für den Selbsttest, welche partiell in Hardware und in Software implementiert werden müssen. Derzeit bekannte Testverfahren sind vorwiegend entweder methodisch auf eine Abstraktionsebene des Schaltungsentwurfs ausgerichtet, vorrangig die Gatter-Ebene, oder propagieren einen nur Software-basierten Selbsttest als sogenanntes "Instruction Level DFI". Dagegen werden gemischt Hardware-/Software- basierte Verfahren, die auf SoCs mit mehreren Prozessoren sogar als übergeordneter Selbsttest organisierbar sind, bisher kaum verfolgt. Mit diesem Projekt soll deshalb versucht werden, hierarchisch orientierte Testverfahren zu entwickeln, die einerseits eine hohe Fehlerüberdeckung für statische und dynamische Fehler bieten und die andererseits in Kombination den Fertigungstest und den Selbsttest im Feld unterstützen können.