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Test und Diagnose in Nanoscale-Technologien

纳米技术的测试和诊断

基本信息

批准号：
14374185
负责人：
Professor Dr. Bernd Becker
金额：
--
依托单位：
Institut für Informatik (IIF)
依托单位国家：
德国
项目类别：
Research Grants
财政年份：
2005
资助国家：
德国
起止时间：
2004-12-31 至 2019-12-31
项目状态：
已结题

来源：
https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/14374185?language=en
关键词：
Test und Diagnose Nanoscale Technologien

项目摘要

Neuartige Defektmechanismen stellen nach wie vor eine Herausforderung bei der Fertigung von Schaltungen in Nanoscale-Technologien dar. Im beantragten Forschungsvorhaben sollen, ausgehend von den Ergebnissen der ersten Förderperiode, auch weiterhin Test- und Diagnosemethoden für Nanoscale-Schaltungen entwickelt und optimiert werden. Im Vergleich zur ersten Förderperiode verschiebt sich dabei der Schwerpunkt der Untersuchungen von statischen hin zu dynamischen Effekten, zur Analyse von Stromverbrauch und von Test- auf Diagnoseverfahren. Während in der ersten Förderperiode vor allem resistive Kurzschlüsse betrachtet wurden, sollen nun Fehlersimulations-, Testmustergenerierungsund Diagnoseverfahren für Unterbrechungsdefekte und Power Droop entwickelt werden. Ausgehend von einer allgemeinen Modellierung soll die SAT-Technologie zur effizienten Behandlung von komplexen Defektmechanismen eingesetzt und dabei auch entsprechend angepasst werden. Des Weiteren untersuchen wir, inwiefern durch übermäßig anspruchsvolle Testverfahren unerwünschterweise defektfreie Schaltungen aussortiert werden könnten (Overtesting).

在纳米技术中，新的缺陷机制就像一个在薄膜中的Herausforderung一样。Im beantragten Forschungsvorhaben sollen，ausgethire von den Ergebnissen der ersten Förderperiode，auch weiterhin Test- und Diagnosemethoden für Nanoscale-Schaltungen entwickelt und optimiert韦尔登. Im Vergleich zur ersten Förderperiode versebt sich dabei der Schwerpunkt der Untersuchungen von statistchen hin zu dynamischen Effekten，zur Analyse von Stromverbrauch und von Test- auf Diagnostervahren. Während in der ersten Förderperiode vor allem resistive Kurzschlüsse betrachtet wurden，sollen nun Fehler simulations-，Testmustergenerungsund Diagnostervafahren für Unterbrechungsdefekte und Power Droop entwickelt韦尔登.为了有效地处理复杂的防御机制，卫星技术还需要建立一个通用模型，这也是韦尔登的一个重要组成部分。Des Weiteren untersuchen wir，inwiefern durch übermäßig anspruchsvolle Testverfahren unerwünschterweise defektfreie Schaltungen aussortiert韦尔登könnten（Overtesting）.

项目成果

期刊论文数量（3）

专著数量（0）

科研奖励数量（0）

会议论文数量（0）

专利数量（0）

On Optimal Power-Aware Path Sensitization

关于最佳功率感知路径敏化

DOI：
10.1109/ats.2016.63
发表时间：
2016
期刊：
2016 IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS)
影响因子：
0
作者：
Matthias Sauer;Jie Jiang;Sven Reimer;Kohei Miyase;Xiaoqing Wen;Bernd Becker;Ilia Polian
通讯作者：
Ilia Polian

Variation-aware deterministic ATPG

变化感知的确定性 ATPG

DOI：
10.1109/ets.2014.6847806
发表时间：
2014
期刊：
2014 19th IEEE European Test Symposium (ETS)
影响因子：
0
作者：
Matthias Sauer;Ilia Polian;Michael E. Imhof;Abdullah Mumtaz;Eric Schneider;Alexander Czutro;Hans-Joachim Wunderlich;Bernd Becker
通讯作者：
Bernd Becker

Efficient SMT-based ATPG for interconnect open defects

基于 SMT 的高效 ATPG，可解决互连开路缺陷