Feldemissionsrasterelektronenmikroskop mit EDX und EBSD Detektor

点击翻译按钮获取中文摘要

„Das beantragte Großgerät ist einerseits als Ersatz des bisher an der Hochschule vorhandenen Rasterelektronenmikroskops, für das seit der Konkursanmeldung der Herstellerfirma im Oktober 2011 die Ersatzteilbeschaffung problematisch geworden ist, gedacht. Andererseits müssen die vorhandenen methodischen und gerätetechnischen Möglichkeiten zur Charakterisierung und Prüfung neuer Materialsysteme ausgeweitet werden. Zu den Hauptuntersuchungsgebieten zählen heute unter anderen: Charakterisierung von verschiedenen metallischen Werkstoffen (Identifizierung von Phasen durch chemische Elementanalyse und Aufnahme von Konzentrationsprofilen mittels EDX; Ermitteln der Textur bzw. Einzelorientierungsanalyse, u. a. zum Erkennen orientierungsabhängiger Vorgänge, wie z.B. Rissausbreitung); Analyse von Elektroden für elektrische Energiespeicher wie z.B. Graphit-Anoden (Identifizierung der einzelnen Bestandteile und deren Anordnung und Verteilung mit einer Auflösung besser als 10nm bei max. 1kV); Analyse von Adhäsionsmechanismen von Klebverbindungen, Faserverbundwerkstoffen und zellularen Verbundwerkstoffen (u.a. Analyse der Oberfläche von geklebten Teilen nach Versagen des Klebstoffes); Analyse des Schädigungsverhaltens verschiedener Werkstoffklassen. Eine solch breit gefächerte Materialpalette erfordert ein Rasterelektronenmikroskop der neuen Generation mit Feldemissionskathode, das eine Charakterisierung bis in die Nanoskala erlaubt.“