Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit EDX-Zusatz

添加 EDX 的场发射扫描电子显微镜

• 批准号: 233242859
• 金额: --
• 依托单位: Eberhard Karls Universität Tübingen
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Major Research Instrumentation
• 财政年份: 2013
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 2012-12-31 至 无数据
• 项目状态: 未结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/233242859?language=en
• 关键词: Feldemissions; Rasterelektronenmikroskop; mit; EDX; Zusatz

„Das einzige Rasterelektronenmikroskop (REM) am Fachbereich Chemie ist nach ca. 20 Jahren Nutzung veraltet und technisch verschlissen. Ein REM ist aber für eine materialorientiert ausgerichtete Forschungseinrichtung ein zentrales Instrument. Die Forschungsgebiete der Hauptantragsteller sind dünne Filme, Grenzflächenphänomene und Nanooptik, wofür sie spektroskopische und mikroskopische Methoden einsetzen. Für völlig neuartige Informationen von Nanoobjekten werden mikrospektroskopische Techniken, wie z. B. TERS, bis zur Nanometer-Auflösung entwickelt. Ein hochauflösendes REM ist für die Charakterisierung von TERS- oder auch STM-Spitzen unverzichtbar. Eine komplementäre Abbildung zu untersuchender Nanoobjekte (plasmonische Strukturen, Inseln, Einzelmoleküle) mit einem hochauflösenden REM im Vergleich zu diesen Rastersondentechniken ist für die Probencharakterisierung als auch die methodische Weiterentwicklung von Schlüsselbedeutung. Bei der Untersuchung von dünnen Filmen (epitaktische Oxide, organische Schichten) und der Strukturbildung beim Wachstum sind hochauflösende Abbildungen von Oberflächentopographien und Inselstrukturen im REM essentiell. Für organische und isolierende Schichten sind gute Abbildungsbedingungen bei niedrigen Energien erforderlich. Zur Aufklärung und Untersuchung lateraler Heterogenitäten (Ausscheidungen) in Filmen oder des vertikalen Aufbaus von Schichtsystemen (Oxid- und Hartstoffschichten) an Schrägschliffen sind analytische Informationen aus Röntgenspektren (EDX) und Rückstreuelektronenverteilungen (BSE) essentiell. Darüber hinaus besteht in weiteren Gruppen der Fakultät, des Lisa+-Zentrums und für Industriekooperationen noch zusätzlicher Bedarf an hochauflösenden REM-Messungen von Partikeln, Clustern und Schichten.“

Das einzige Rastektronenmikroskop（REM）am Fachbereich Chemie ist nach ca. 20年来，Nutzung veraltet und technisch verschlissen。Ein REM ist aber für eine materialorientiert ausgerichtete Forschungseinrichtung ein zentrales Instrument. Die Forschungsgebiete der Hauptantragsteller sind dünne Filme，Grenzflächenphänomene und Nanoptik，wofür sie spektroskopische und mikroskopische Methoden einsetzen. Für völlig neuartige Informationen von Nanobjekten韦尔登mikrospektroskopische Techniken，wie z. B。TERS，bis zur Nanometer-Auflösung entwickelt。Ein hochauflösendes REM ist für die Charakterisierung von TERS- oder auch STM-Spitzen unverzichtbar. Eine komplementäre Abbildung zu untersuchender Nanobjekte（plasmonische Strukturen，Inseln，Einzelmoleküle）mit einem hochauflösenden REM im Vergleich zu diesen Rastersondentechniken ist für die Probencharakterisierung als auch die methodische Weiterentwicklung von Schlüsselbedeutung. Bei der Untersuchung von dünnen Filmen（epitaktische Oxide，organische Schichten）und der Strukturbildung beim Wachstum sind hochauflösende Abbildungen von Oberflächentopographien und Inselstrukturen im REM essentiell. Für organische und isolierende Schichten sind gute Abbildungsbedingungen bei nedrigen Energien erforderlich. Zur Aufklärung und Untersuchung lateraler Heterogenitäten（Ausscheidungen）in Filmen oder des vertikalen Aufbaus von Schichtsystemen（Oxid- und Hartstoffschichten）an Schrägschliffen sind analytische Informationen aus Röntgenspektren（EDX）und Rückstreuelektronenvertelungen（BSE）essentiell. Darüber hinaus besteht in weiteren Gruppen der Fakultät，des丽莎+-Zentrums und für Industriekooperation en noch zusätzlicher Bedarf an hochauflösenden REM-Messungen von Partikeln，Schistern und Schichten.“

项目成果

Enhancement of Radiative Plasmon Decay by Hot Electron Tunneling.

• DOI: 10.1021/acsnano.5b02361
• 发表时间: 2015-07
• 期刊: ACS nano
• 影响因子: 17.1
• 作者: Xiao Wang;K. Braun;Dai Zhang;H. Peisert;H. Adler;T. Chassé;A. Meixner

Towards Photo-Switchable Transport in Quantum Dot Solids

• DOI: 10.1515/zpch-2016-0863
• 发表时间: 2016
• 期刊: Zeitschrift für Physikalische Chemie
• 作者: C. Schedel;Robert Thalwitzer;M. S. Khoshkhoo;Marcus Scheele

Toward Conductive Mesocrystalline Assemblies: PbS Nanocrystals Cross-Linked with Tetrathiafulvalene Dicarboxylate

• DOI: 10.1021/acs.chemmater.5b03821
• 发表时间: 2015-12-08
• 期刊: CHEMISTRY OF MATERIALS
• 影响因子: 8.6
• 作者: Andre, Alexander;Zherebetskyy, Danylo;Scheele, Marcus
• 通讯作者: Scheele, Marcus

Self-aligned placement and detection of quantum dots on the tips of individual conical plasmonic nanostructures.

单个圆锥形等离子体纳米结构尖端上量子点的自对准放置和检测

• DOI: 10.1039/c5nr03546e
• 发表时间: 2015
• 期刊: Nanoscale
• 影响因子: 6.7
• 作者: J. Fulmes;R. Jäger;A. Bräuer;C. Schäfer;S. Jäger;D.A. Gollmer;A. Horrer;E. Nadler;T. Chassé;D. Zhang;A.J. Meixner;D.P. Kern;M. Fleischer
• 通讯作者: M. Fleischer

Coupling single quantum dots to plasmonic nanocones: optical properties.

• DOI: 10.1039/c5fd00074b
• 发表时间: 2015-12
• 期刊: Faraday discussions
• 影响因子: 3.4
• 作者: A. Meixner;Regina Jäger;S. Jäger;A. Bräuer;Kerstin Scherzinger;J. Fulmes;Sven zur Oven Krockhaus;Dominik A. Gollmer;D. Kern;M. Fleischer