Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit EDX/EBSD-Analytik

带 EDX/EBSD 分析的场发射扫描电子显微镜

• 批准号: 228277397
• 金额: --
• 依托单位: Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Major Research Instrumentation
• 财政年份: 2013
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 2012-12-31 至 无数据
• 项目状态: 未结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/228277397?language=en
• 关键词: Feldemissions; Rasterelektronenmikroskop; mit; EDX; EBSD

„Der Schwerpunkt der Arbeiten der Arbeitsgruppe liegt in der Materialentwicklung, basierend auf einem Verständnis der Zusammenhänge zwischen Herstellung, MikroStruktur und Eigenschaften. Aufgrund des großen Umfangs der anfallenden Arbeiten wird ein Rasterelektronenmikroskop im Rahmen der Grundausstattung benötigt. Das derzeit vorhandene Mikroskop, welches 1992 beschafft wurde, wird vermutlich schon sehr bald nicht mehr reparabel sein, so dass die Beschaffung eines Ersatzes für das vorhandene Gerät auf der Basis des heutigen Standes der Technik zwingend erforderlich ist. Da die Mikrostrukturmerkmale im Nanometer- bis Mikrometerbereich angesiedelt sind und zunehmend Materialien untersucht werden, deren Primärpartikelgröße im Nanometerbereich und deren Korngrößen in der Größenordnung von einigen 10 nm liegen, ist ein REM mit hoher Auflösung notwendig. Außerdem soll das REM mit einem kombinierten EDX/EBSD (Electron Backscattered Diffraction)-System ausgestattet sein. Die EDX-Analyse dient zur ortsaufgelösten Analyse der chemischen Zusammensetzung der Materialien; während der EBSD-Detektor die Bestimmung der Kornorientierungen erlaubt. Bei der Wahl des EBSD-Systems wird ein Gerät mit möglichst hoher Auflösung angestrebt.“

“材料与材料的结合，材料与材料的结合，材料与材料的结合，材料与材料的结合，材料与材料的结合，材料与材料的结合，材料与材料的结合。”在Rahmen der Grundausstattung benötigt。在derzeit vorhandene Mikroskop， welches 1992 beschafft wurde, wind vermutlich schon sehr bald mhahr reparabel sein, so dass die Beschaffung eines Ersatzes f<e:1> r Das vorhandene Gerät derutigen Standes der Technik zwingend erderlich ist的基础。Da die microstrukturmerkmale in nm - bis mirometerbereich ich angesiedededsind and zunerement Materialien untersucht werden, deren Primärpartikelgröße in Nanometerbereich and deren Korngrößen in der Größenordnung von einigen 10nm liegen, ist in REM mit hoher Auflösung not enddig。Außerdem soll das REM mit einem kombinierten EDX/EBSD（电子背散射衍射）-System ausgestatet sein。模具edx - analyze dient zur ortsaufgelösten analyze der chemischen Zusammensetzung der Materialien；während der ebsd - dedektor die beestimmung der Kornorientierungen erlaubt。beder Wahl des EBSD-Systems wind in Gerät mit möglichst hoher Auflösung angestrebt。”