Programmierbare Mess- und Testplattform für System-on-Chip-basierte heterogene Elektronik-Systeme
Programmierbare Mess- und Testplattform für System-on-Chip-basierte heterogene Elektronik-Systeme
批准号:
282150705
负责人:
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Major Research Instrumentation
财政年份:
2015
资助国家:
德国
项目状态:
未结题
起止时间:
2014-12-31 至 --
中文摘要
IMS是一种模拟和数字集成的建筑和数字系统。系统级芯片体系结构(SoCS)是一种新型的系统结构。Für den Ausbau Dieser Kernkompetenz des IMS is die the die Anschaffung eines zentalen Programmiereren集成测试-and Messages Systems essentiell.这是一种灵活的信息传递方式和灵活的信息传递方式。Ein Zentales Forschungsgebiet des IMS stellt die Biomedizintech ik dar.IMS Stellt ALS Mitglied des im Aufbau be findlichen Niedersächsischen Centrum für BiomedizinTechnik,Implantatforschung and Entwickrun(NIFE)SoCs and elektronischen Komponenten für Implantate bereit and Wirkt so der Herstellung von bedarfsgerechten Implantten MIT。在极端的情况下,合理的生物多样性系统的特征和获得是不可能的。本公司主要从事汽车、地热等行业的生产。这是一个很小的公差系统,也是一个测试芯片。这是在德国拉奇,Sensoren,Aktoren和Ensprechenden Schnittstellen在Kombination MIT einer灵活编程和如此新的Forschungsvorhaben zu ermöglichen。
英文摘要
Am Institut für Mikroelektronische Systeme (IMS) werden Architekturen für analoge und digitale integrierte Schaltungen und Systeme erforscht und umgesetzt. Diese System-on-Chip-Architekturen (SoCs) müssen vor Inbetriebnahme der darauf aufbauenden kompletten Elektronik-Systeme charakterisiert und getestet werden. Für den Ausbau dieser Kernkompetenz des IMS ist die Anschaffung eines zentralen programmierbaren integrierten Test- und Messsystems essentiell. Das Messsystem ist flexibel und kann für eine große Anzahl verschiedener aktueller und zukünftiger Projekte verwendet werden. Ein zentrales Forschungsgebiet des IMS stellt die Biomedizintechnik dar. Das IMS stellt als Mitglied des im Aufbau befindlichen Niedersächsischen Zentrums für Biomedizintechnik, Implantatforschung und Entwicklung (NIFE) SoCs und elektronischen Komponenten für Implantate bereit und wirkt so an der Herstellung von bedarfsgerechten Implantaten mit. Gerade sensible biomedizinische Systeme müssen intensiv und unter extremen Randbedingungen charakterisiert und getestet werden. Ein weiteres Anwendungsgebiet für die Testung von SoCs stellt die Hochtemperaturelektronik (Automotive, Geothermie) dar. Hier werden fehlertolerante Systeme benötigt, und das PXIe-Großgerät wird zur Gewinnung von realen Messdaten an Testchips eingesetzt werden. Das Gerät ist in der Lage, Sensoren, Aktoren und entsprechenden Schnittstellen in Kombination mit einer flexiblen Programmierbarkeit zu emulieren und so neue Forschungsvorhaben zu ermöglichen.
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