Programmierbare Mess- und Testplattform für System-on-Chip-basierte heterogene Elektronik-Systeme

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Am Institut für Mikroelektronische Systeme (IMS) werden Architekturen für analoge und digitale integrierte Schaltungen und Systeme erforscht und umgesetzt. Diese System-on-Chip-Architekturen (SoCs) müssen vor Inbetriebnahme der darauf aufbauenden kompletten Elektronik-Systeme charakterisiert und getestet werden. Für den Ausbau dieser Kernkompetenz des IMS ist die Anschaffung eines zentralen programmierbaren integrierten Test- und Messsystems essentiell. Das Messsystem ist flexibel und kann für eine große Anzahl verschiedener aktueller und zukünftiger Projekte verwendet werden. Ein zentrales Forschungsgebiet des IMS stellt die Biomedizintechnik dar. Das IMS stellt als Mitglied des im Aufbau befindlichen Niedersächsischen Zentrums für Biomedizintechnik, Implantatforschung und Entwicklung (NIFE) SoCs und elektronischen Komponenten für Implantate bereit und wirkt so an der Herstellung von bedarfsgerechten Implantaten mit. Gerade sensible biomedizinische Systeme müssen intensiv und unter extremen Randbedingungen charakterisiert und getestet werden. Ein weiteres Anwendungsgebiet für die Testung von SoCs stellt die Hochtemperaturelektronik (Automotive, Geothermie) dar. Hier werden fehlertolerante Systeme benötigt, und das PXIe-Großgerät wird zur Gewinnung von realen Messdaten an Testchips eingesetzt werden. Das Gerät ist in der Lage, Sensoren, Aktoren und entsprechenden Schnittstellen in Kombination mit einer flexiblen Programmierbarkeit zu emulieren und so neue Forschungsvorhaben zu ermöglichen.