Multisensor Mess- und Referenzsystem für optische Präzisionssensoren
Multisensor Mess- und Referenzsystem für optische Präzisionssensoren
批准号:
251252554
负责人:
金额:
$0.0万
依托单位:
依托单位国家:
德国
项目类别:
Major Research Instrumentation
财政年份:
2013
资助国家:
德国
项目状态:
未结题
起止时间:
2012-12-31 至 --
中文摘要
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英文摘要
Das Fachgebiet Messtechnik forscht auf dem Gebiet der optischen Sensorik zur Erfassung von Mikro- und Nanostrukturen. Wichtige Optimierungskriterien für neue Sensorsysteme sind hohe laterale und axiale Auflösungen, die Reduzierung von Störeffekten sowie eine große Robustheit und Zuverlässigkeit. Untersucht werden sowohl mikrooptische Punktsensoren als auch kamerabasierte Sensoren zur flächenhaften Geometrieerfassung. Dabei werden interferometrische und konfokale Messprinzipien sowie Methoden der strukturierten Beleuchtung genutzt. Um die eigenen Sensoren in ihren unterschiedlichen Ausbaustufen charakterisieren und qualifizieren zu können, ist ein flexibles Referenzmesssystem erforderlich, das mit geeigneten kommerziell verfügbaren Sensoren für Vergleichsmessungen ausgestattet ist. Dafür wurden ein hochauflösender, flächenhaft messender konfokaler Sensor und ein kompaktes Rasterkraftmikroskop ausgewählt. Um Messungen reproduzierbar durchführen und vergleichen zu können, sollen geeignete Mess- und Kalibierobjekte in einer Aufspannung untersucht werden. Dies erfordert entsprechend dimensionierte, präzise Positionier- und Messachsen. Der Messplatz soll zusätzlich zur Sensorqualifizierung im Rahmen von Drittmittelprojekten ggf. auch für Auftrags- und Vergleichsmessungen an mikro- und nanostrukturierten Objekten in unterschiedlichen Skalen genutzt werden. Die Messmöglichkeiten werden innerhalb der Universität auch anderen Arbeitsgruppen zugänglich gemacht.
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会议论文
Multisensor-Messsystem zur Messung von Mikro- und Nanotopographien
用于测量微米和纳米形貌的多传感器测量系统
DOI:
10.1515/teme-2017-0031
发表时间:
2017
期刊:
tm - Technisches Messen
影响因子:
--
作者:
[S. Hagemeier, P. Lehmann]
通讯作者:
P. Lehmann
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