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間欠動作する故障検出機構と多重化によるAMSシステムの高信頼化

通过间歇性故障检测机制和多路复用提高 AMS 系统的可靠性

基本信息

批准号：
21K11813
负责人：
橘昌良
金额：
$ 2.75万
依托单位：
Kochi University of Technology
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份：
2021
资助国家：
日本
起止时间：
2021-04-01 至 2024-03-31
项目状态：
已结题

项目摘要

本研究はAMS（Analog Mixed Signal)システムLSIの高信頼化を目的としたアナログ回路の故障検出をシステムの動作中にも行える機構の開発を主目的としている。この機構はAMSシステムがデジタル/アナログ両方の回路を組み合わせて使える点を利用して、検査対象となるアナログ回路の動作を必要としない時間を理容師ってテストを進めることで、システムの動作状態での動作異常の検出を行うことが出来るシステムを提案し、LSI化を行いその有効性を確認、実証することを目的としている。令和４年度には、基準電源回路のカタストロフィック故障を検出するための回路に関してのLSI化とアナログ信号処理システムで良く使用される電位の比較に用いられるコンパレータ、特に高速な応答を要求されるところで使用されるダイナミックコンパレータについてカタストロフィック故障を検出するための機構とそれを実現する回路の設計とLSI化を行った。また、故障検出回路では，電源電圧、接地電圧との差がトランジスタのしきい値電圧よりも小さい電圧の検出も要求されるため入力電圧をシフトして検出するコンパレータの設計とＬＳＩ化を行った。基準電源回路については、LSI化された実証回路において素子バラツキの影響が故障検出回路の動作に影響し、故障の有無を検出できない問題が発生した。そのため、素子バラツキの範囲を確認し、故障検出を容易にするための回路の検討とLSI化を行っている。上記の３つの回路についてはLSI化を行い、動作の確認を行う予定である。以上の研究成果については１件の論文（査読付き）と国内学会での発表が２件ある。

In this study, AMS (Analog Mixed Signal) is responsible for LSI. The purpose of this study is to detect the failure of the loop. in the operation of the accident, the bank operator is responsible for the operation of the main target. The organization of the AMS is responsible for the monitoring of the loop. the organization of the looper is responsible for the use of the loop. the operation of the loop. the operation of the loop. it is necessary to monitor the operation of the loop. it is necessary to make sure that the operation is in progress, the state of the operation is not in progress, and the bank is used to send out the bank. LSI makes sure that you have sex and that the purpose is to make sure that you have sex. In the year 4, the failure of the standard power source circuit and the standard power source circuit has been caused by the failure of the power supply circuit and the standard power source circuit in the year 4. In response to the special high-speed telephone, you are required to use the equipment to realize the design of the circuit and the LSI system. The power supply and fault exit loops are out of the loop, and the power supply and earthing power supply is different from each other. There is a requirement for the output of the power supply circuit, the power supply, the power supply, the output, the output and the design of the LSI. The basic power source circuit is in a bad state, and the LSI network is used to cause a failure in the fault loop. if there is a failure, there is a negative action in the failure loop. if there is a failure, there is no problem. Please confirm that it is easy to LSI the circuit and make sure that the failure occurs. Go back to the 3-loop loop to LSI the line, and the action to confirm that the line is scheduled. The above "research results", "1 article" ("payment"), "domestic society", "table", "2 articles".

项目成果

期刊论文数量（8）

专著数量（0）

科研奖励数量（0）

会议论文数量（0）

专利数量（0）

BIST Scheme for Dynamic Comparators

动态比较器的 BIST 方案

DOI：
10.3390/electronics11244169
发表时间：
2022
期刊：
electronics
影响因子：
2.9
作者：
Masayoshi Tachibana ; Tang Xiaobin
通讯作者：
Masayoshi Tachibana ; Tang Xiaobin

A BIST Scheme for Bootstrapped Switches

自举开关的 BIST 方案

DOI：
10.3390/electronics10141661
发表时间：
2021
期刊：
electronics
影响因子：
2.9
作者：
TAKEUCHI Yuta;AOYAMA Shunya;SATO Masanori;KUROKI Nobutaka;ICHIOKA Yoshihiro;SUGANUMA Naoaki;Masayoshi Tachibana ; Tang Xiaobin
通讯作者：
Masayoshi Tachibana ; Tang Xiaobin

バンドギャップ基準電源回路の素子バラツキを抑制する回路の検討

带隙基准电源电路中抑制元件偏差的电路研究