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SI traceble length measurement of lattice distances by a transmission electron microscope through the intermediary of the metrological atomis force micrscope

SI traceble length measurement of lattice distances by a transmission electron microscope through the intermediary of the metrological atomis force micrscope
通过计量原子力显微镜,通过透射电子显微镜对晶格距离进行 SI 可溯源长度测量
批准号:
20K04511
负责人:
Kobayashi Keita
金额:
$2.75万
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份:
2020
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2020-04-01 至 2023-03-31

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DOI: --
发表时间: 2023
期刊:
影响因子: --
作者: [小林慶太, 三隅伊知子, 山本和弘]
通讯作者: 山本和弘
Effect of specimen processing for transmission electron microscopy on lattice spacing variation in Si specimens
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发表时间: 2022
期刊: Ultramicroscopy
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发表时间: 2021
期刊: Measurement Science and Technology
影响因子: 2.4
作者: [Kobayashi Keita, Misumi Ichiko, Yamamoto Kazuhiro]
通讯作者: Yamamoto Kazuhiro
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