Study on polishing phenomenon with AFM tip scratch machining
Study on polishing phenomenon with AFM tip scratch machining
批准号:
19K04130
负责人:
Matsui Shinsuke
金额:
$2.83万
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份:
2019
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2019-04-01 至 2023-03-31
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AFMスクラッチによる加工特性評価ー第10報:アルミナ,SiC触針による加工の比較検討ー
使用AFM划痕评估加工特性 - 第10次报告:使用氧化铝和SiC触针加工的比较研究 -
DOI:
--
发表时间:
2021
期刊:
影响因子:
--
作者:
[神 雅彦, 坂本 慈瑛, 金井 秀生, 佛生光,佐藤昌彦, 礒野泰地,松井伸介]
通讯作者:
礒野泰地,松井伸介
UV直接照射アシストによるGaN基板の研磨の評価第3報 ~研磨速度に対するポリシャの効果~
使用直接紫外线照射辅助的 GaN 衬底抛光评估第三次报告 ~抛光机对抛光速率的影响 ~
DOI:
--
发表时间:
2021
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Shinsuke MATSUI , Kouta HIROSHIMA , and Atsunobu UNE, 金枝知季 松井伸介,山本栄一,矢島利康 二宮大輔]
通讯作者:
金枝知季 松井伸介,山本栄一,矢島利康 二宮大輔
UV-light assist chemical mechanical polishing of GaN with mesh polisher made of chemical durable plastics
使用化学耐用塑料制成的网状抛光器进行紫外光辅助化学机械抛光 GaN
DOI:
--
发表时间:
2020
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Shinsuke Matsui, Mizuki Akahori,Takuma Suzuki,Eiichi Yamamoto,Tsubasa Bando,Yasutoshi Yajima and Daisuke Ninomiya]
通讯作者:
Mizuki Akahori,Takuma Suzuki,Eiichi Yamamoto,Tsubasa Bando,Yasutoshi Yajima and Daisuke Ninomiya
小型研磨機によるSiC基板の研磨特性の評価(第2報)
使用小型抛光机评估 SiC 衬底的抛光特性(第二次报告)
DOI:
--
发表时间:
2019
期刊:
影响因子:
--
作者:
[鈴木 拓磨, 松井 伸介, 矢島 利康, 二宮 大輔]
通讯作者:
二宮 大輔
UV直接照射アシストによるGaN基板の研磨の評価 第2報 ~酸化剤を用いた研磨高能率化~
使用 UV 直接照射辅助的 GaN 基板抛光评价,第 2 次报告~使用氧化剂的高效抛光~
DOI:
--
发表时间:
2020
期刊:
影响因子:
--
作者:
[上田大成, 松井伸介, 山本栄一, 坂東翼, 矢島利康, 二宮大輔]
通讯作者:
二宮大輔
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